FISCHER涂鍍層測厚儀FMP10及FMP30儀器比基本款的FMP10和FMP20型儀器擁有更多的功能。例如：可以儲存更多應用程式的大內存、大量的圖形和統(tǒng)計計算功能等。這樣就能適用于更加廣泛的應用、滿足客戶更高的要求。上下限公差的自由輸入可以幫助客戶對生產(chǎn)過程進行更全面的分析和統(tǒng)計。更多種測量方式可供選擇，幫助您完成完美的測量。FMP30和FMP40型儀器比基本款的FMP10和FMP20型儀器擁有更多的功能。例如：可以儲存更多應用程式的大內存、大量的圖形和統(tǒng)計計算功能等。這樣就能適用于更加廣泛的應用、滿足客戶更高的要求。上下限公差的自由輸入可以幫助客戶對生產(chǎn)過程進行更全面的分析和統(tǒng)計。更多種測量方式可供選擇，幫助您完成完美的測量。
   

FISCHER涂鍍層測厚儀FMP10及FMP30的功能 
(相對于FMP10 和FMP20型儀器增加的功能)
儀器功能
• 自動識別底材 (FMP40).
• 外部觸發(fā)測量
 （例如：測量直徑很小的空心圓柱體的內壁）
• 使用未知材料的鍍層進行校準（僅限于磁感應法）
• USB接口可以連接計算機和打印機
• 電池供電和交流電源(可選件)供電
應用程式存儲
• 可以儲存100個應用程式，包括校準信息。
• 可以儲存 20,000 個讀數(shù)
• 可以儲存 4,000 個數(shù)據(jù)組
• 數(shù)據(jù)組包含日期和時間信息
• 糾正已儲存的讀數(shù)
• 應用程式關聯(lián)功能：多個應用程式能使用相同的歸一化/校準信息
• 通過電腦計算機可以編輯應用程式名稱
 （可選件：MP-Name軟件）統(tǒng)計和計算
• 數(shù)據(jù)組統(tǒng)計值和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計值
• 測量數(shù)據(jù)直方圖顯示
• 可輸入上下限公差并估算 cp 和 cpk值
• 測量結果超出公差范圍時儀器發(fā)出視覺和聲音警告測量方式
• 連續(xù)測量模式下，測量數(shù)據(jù)可在上下限公差范圍內模擬顯示
• 可使用矩陣測量模式進行大量測量
• 取平均值：只儲存若干個測量數(shù)據(jù)的平均值
• 區(qū)域測量：提起探頭后才儲存測量過程中的平均值
• 自動測量：無需提起探頭，儀器自動獲得數(shù)值
• 離奇值控制：儀器可自動排除錯誤的測量值
 

一次測量的質量，主要由幾個關鍵因素決定。包括：選擇適當?shù)奶筋^和探頭本身的質量等。Helmut Fischer GmbH為您提供種類繁多而又品質的高精度探頭，所有探頭都是按照高的品質要求自行開發(fā)和生產(chǎn)。鍍層/底材的種類是選擇探頭重要的依據(jù)。另外，鍍層的大致厚度、底材的材料、測量點的面積以及樣品的形狀和表面情況都是選擇探頭時需要考慮的因素。曲率補償探頭（渦流法）適用于不同曲面的樣品：雙觸點探頭能夠在粗糙的表面上得到精確的結果.FMPIFMP20，F(xiàn)MP30，F(xiàn)MP40型儀器都可以通過連接不同的探頭來滿足您不同的測量需求。下面的圖表顯示了選擇探頭的標準流程。我們的探頭庫中擁有超過100種適合不同應用的探頭，除此之外，Helmut Fischer GmbH還能為您的應用特別定制探頭。