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低溫冷藏冷凍保存箱型號；HA-HYCD-205主要點(diǎn)1、便捷環(huán)保----雙壓縮機(jī)立控制，冷藏冷凍單顯示，立開關(guān)；2、安---溫度自動記錄，自動存儲，帶U盤即插即...

陶瓷磚釉面耐磨試驗(yàn)機(jī)型號:HAD-CYM-8HAD-CYM-8型，主要用來測定陶瓷磚釉面表面的耐磨強(qiáng)度，亦可用于其他如衛(wèi)生陶瓷、搪瓷件等的釉面耐磨性能試驗(yàn)、檢測...

礦用本安型表面式溫度傳感器 礦用溫度傳感器 溫度傳感器 HAD-GWP200-M適用范圍： 適用于對煤礦機(jī)電設(shè)備的有面溫度行連續(xù)測量，具有炸性氣體物的混合物場所...

電容位式料位控制器/料位開關(guān)型號:HAD-LWHAD-LW系列電容位式料位控制器（又名料位關(guān)），能對業(yè)過程中各種粉狀、顆粒狀物料行上、下位檢測，并發(fā)出相應(yīng)的“開...

HAD-JX-3型振動傳感器校準(zhǔn)器集正弦信號發(fā)生器、率放大器、標(biāo)準(zhǔn)傳感器和振動態(tài)于身，通過正弦激振的方法，產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)的振動加速度，速度或位移信號，可用于校準(zhǔn)加速度...

飽和蒸氣壓實(shí)驗(yàn)裝置 型號：NJ-DP-AF用靜態(tài)法測定液體在不同溫度下的蒸氣壓，從而求出在實(shí)驗(yàn)溫度范圍內(nèi)的平均摩爾蒸發(fā)熱。裝置組成及點(diǎn)

主要征：◆研絲桿，線性軸承導(dǎo)軌；◆配數(shù)顯游標(biāo)尺；動態(tài)數(shù)顯對位移和位置，可意設(shè)置零位；◆底面和臺面的標(biāo)準(zhǔn)安裝孔位，便于與其它產(chǎn)品安裝組合

手動平移臺/手動位移臺型號:HAD-YT202主要征：◆燕尾副導(dǎo)軌，斜齒輪齒條驅(qū)動；◆側(cè)面帶鎖緊鈕；◆底面和臺面的標(biāo)準(zhǔn)安裝孔位，便于與其它產(chǎn)品安裝組合

主要點(diǎn)（1）采用目前Z的駐體電容式傳聲器及口集成元件，測量靈敏度,準(zhǔn)確可靠，響應(yīng)時(shí)間快。（2）采用口微處理器為控制核心，實(shí)現(xiàn)智能檢測及數(shù)字化處理

J15003型中數(shù)字演示電表是種數(shù)字顯示測量儀器，儀器可測量交、直電和交、直電壓，是供學(xué)校物理教學(xué)演示實(shí)驗(yàn)使用的種通用儀器

薄膜厚度測試儀 塑料薄膜/薄片自動度測厚儀型號：H1CHY-CA適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量

半彩條+10灰階清晰度測試卡型號；HD-YZ868E-PAL/NTSC/SECAM PAL制式半彩條+10灰階測試圖 適用于PAL的所有制式包括I、DK、BG等...

微機(jī)灰熔點(diǎn)測定儀 灰熔點(diǎn)測定儀 型號：HY-HR-4A煤灰的熔融性直接關(guān)系到電廠鍋爐是否結(jié)渣（俗稱結(jié)焦）及其嚴(yán)重程度，因而它對鍋爐的安、經(jīng)濟(jì)運(yùn)行關(guān)系大。該儀器門...

1、研究阻尼振動與受迫振動,分析速度共振與位移共振。2、測量音叉的諧振曲線(電測量法)與振動頻率(李沙育圖形法)。3、測量音叉的諧振曲線(雙光柵法)。4、改變音...

LK-PSP05平臺式攝譜儀是為大學(xué)的氫氬光譜、納光譜、汞光譜等光譜實(shí)驗(yàn)而的新型教學(xué)型攝譜儀，焦距長達(dá)790mm，配合線陣CCD，使分辨率遠(yuǎn)于其它產(chǎn)品。采用恒偏...

充氬夫蘭克-赫茲管（加熱），點(diǎn)測譜峰（谷）數(shù)≥7，示波器觀測譜峰（谷）數(shù)≥7，實(shí)驗(yàn)面板圖示法表示，5塊LED數(shù)字面板盡數(shù)顯示實(shí)驗(yàn)參數(shù)，各參數(shù)表頭立，清晰直觀、穩(wěn)...

測量電子在電場、磁場中運(yùn)動規(guī)律，電子荷質(zhì)比和地磁分量，電子螺旋運(yùn)動≥7π，電子聚焦≥3次

利用計(jì)算機(jī)采集和處理80K—450K溫度范圍內(nèi)的霍爾系數(shù)和電導(dǎo)率。

參照電阻加熱蒸發(fā)法制備微顆粒的原理，行相關(guān)的金屬、氧化物、分子材料及其他材料的微顆粒制備實(shí)驗(yàn)或演示

相位法光速測量儀 光速測量儀 型號：LK-LM2000A對激光光束直接行100MHz的頻調(diào)制，移動反光鏡通過測量近程光與遠(yuǎn)程光的相位差求得調(diào)制光的波長，依據(jù)C=...