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技術(shù)文章
X射線熒光（XRF）儀器的工作原理
點(diǎn)擊次數(shù)：4031 發(fā)布時(shí)間：2016-3-30
X射線熒光(XRF)儀器的工作原理
X射線熒光(XRF)儀器的工作原理是對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個(gè)化學(xué)元素會(huì)釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強(qiáng)度，X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
X射線熒光分析的優(yōu)點(diǎn)如下：
zui少或無需樣品制備
無損分析
可測元素范圍廣： Ti 22 to U92
可分析固體和溶液
分析快速：幾秒內(nèi)得到結(jié)果
定性、半定量和全定量分析
操作容易，只需要簡單培訓(xùn)
X射線熒光標(biāo)準(zhǔn)檢測方法、規(guī)格和操作指導(dǎo)通用，可提高產(chǎn)品質(zhì)量、
安全性，便于市場準(zhǔn)入和貿(mào)易，增強(qiáng)客戶信心。
常規(guī)儀器應(yīng)用如德國菲希爾x-ray鍍層測厚儀、牛津x射線測厚儀等。
其他測量儀器引讀：鐵素體測量儀、紫外線燈。