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在底片黑度，像質計靈敏度符合要求的情況下，哪些缺陷仍會漏檢？
閱讀：2567 發(fā)布時間：2016-12-30
（1）小缺陷。如果小缺陷的影像尺寸小于不清晰度尺寸，影像對比度小于zui小可見對比度，便不能識別。因此對一定的透照條件，存在著一個可檢出缺陷的臨界尺寸，小于臨界尺寸的缺陷便不能檢出；例如小氣孔、夾渣、微裂紋、白點等。
（2）與照射方向不平行的平面缺陷。平面型缺陷具有方向性，當缺陷平面與射線之間夾角過大，會使對比度降低，甚至在底片上不產(chǎn)生影像，從而造成漏檢。例如坡口及層間未熔合、鋼板分層的漏檢以及透照工藝不當，0角過大造成橫向裂紋漏檢均屬此類情況。
（3）閉合緊密的缺陷。對某些緊閉缺陷即使透照角度在允許范圍內(nèi)，仍不能產(chǎn)生足夠的透照厚度差，從而造成漏檢。例如緊閉的裂紋、未熔合、鍛件中的折迭等。