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射線探傷常見缺陷——裂紋類缺陷
閱讀：6334 發(fā)布時(shí)間：2021-6-25
射線探傷的基本原理如下：
當(dāng)強(qiáng)度均勻的射線束透照射物體時(shí)，如果物體局部區(qū)域存在缺陷或結(jié)構(gòu)存在差異，它將改變物體對(duì)射線的衰減，使得不同部位透射射線強(qiáng)度不同，這樣，采用一定的檢測(cè)器（例如，射線照相中采用膠片）檢測(cè)透射射線強(qiáng)度，就可以判斷物體內(nèi)部的缺陷和物質(zhì)分布等。射線探傷常用的方法有X射線探傷、γ射線探傷、高能射線探傷和中子射線探傷。對(duì)于常用的工業(yè)射線探傷來說，一般使用的是X射線探傷、γ射線探傷。
裂紋Cracks
定義：裂紋是指材料局部斷裂形成的缺陷。
影像特征：底片上裂紋和典型影像是輪廓分明的黑線或黑絲。
其細(xì)節(jié)特征包括：黑線或黑絲上有微小的鋸齒，有分叉，粗細(xì)和黑度有時(shí)有變化，有些裂紋影像呈較粗的黑線與較細(xì)的黑絲相互纏繞狀；線的端部尖細(xì)，端頭前方有時(shí)有絲狀陰影延伸。
接下來小編就帶您看看一些已經(jīng)拍完的膠片上具體的裂紋類缺陷
