天瑞Skyray EDX8000L X熒光考古分析儀

產品說明、技術參數(shù)及配置：

儀器介紹：

EDX8000L利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的部門提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣，一次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學成份含量，再對照中國古陶瓷數(shù)據(jù)庫便可以達到斷代斷源的功效。同時，為了更好的利用X熒光分析儀器的無損測量特性，我公司根據(jù)行業(yè)需要制作超大型抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。

EDX8000L型儀器在測試陶瓷的同時亦可以測試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化學成份和金屬鍍層厚度，做到一機多用，是古文物檢測的科學檢測儀器。中國歷史博物館、中國收藏家協(xié)會等古文物收藏部門都是其用戶。

標準配置：

超薄窗大面積的原裝Fast SDD探測器

數(shù)字多道系統(tǒng)

可自動切換型準直器和濾光片

光路增強系統(tǒng)

內置高清晰攝像頭

加強的金屬元素感度分析器

智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。

面光源

放大電路

高低壓電源

X光管

多變量非線性回歸程序

相互獨立的基體效應校正模型。

三重安全保護模式

外觀尺寸： 800×710×1360 mm

樣品腔尺寸：590×550×600mm

重量：280kg

應用領域：

古陶瓷

古青銅器

古首飾

鍍層測厚

天瑞Skyray EDX8000L X熒光考古分析儀