在半導(dǎo)體行業(yè)，老化試驗(yàn)是檢驗(yàn)產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性及長期性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。為了確保半導(dǎo)體產(chǎn)品在長期使用中的穩(wěn)定工作，進(jìn)行全面、持續(xù)的數(shù)據(jù)采集至關(guān)重要。GRAPHTEC數(shù)據(jù)記錄儀憑借其出色的性能，成為半導(dǎo)體行業(yè)老化試驗(yàn)中的理想選擇。

日本圖技數(shù)據(jù)記錄儀GL260A/GL860A在半導(dǎo)體行業(yè)老化試驗(yàn)的應(yīng)用案例

老化測(cè)試

在老化測(cè)試過程中，半導(dǎo)體產(chǎn)品的電壓、電流、溫度等多個(gè)參數(shù)需要同時(shí)被監(jiān)測(cè)，GRAPHTEC GL260 A-CN和GL860 A系列數(shù)據(jù)記錄儀可以提供10個(gè)到最高200通道，能夠同時(shí)記錄多個(gè)參數(shù)。無論是靜態(tài)電流的監(jiān)測(cè)，還是工作電流的動(dòng)態(tài)變化，GL-IV電流輸入模塊都能精準(zhǔn)記錄。

此外，GL260 A-CN和GL860 A系列數(shù)據(jù)記錄儀標(biāo)配了約8G閃存，使其能在滿足采樣速度下，能夠支持長時(shí)間的數(shù)據(jù)記錄。通過大容量存儲(chǔ)，測(cè)試人員無需頻繁導(dǎo)出數(shù)據(jù)，確保整個(gè)老化周期的連續(xù)性。長時(shí)間的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)還有效避免了因數(shù)據(jù)丟失而影響測(cè)試結(jié)果的風(fēng)險(xiǎn)。

通過GRAPHTEC數(shù)據(jù)記錄儀，半導(dǎo)體制造商能夠?qū)崟r(shí)跟蹤產(chǎn)品在老化過程中各項(xiàng)性能的變化，如電流波動(dòng)、溫度升高等，及時(shí)發(fā)現(xiàn)潛在的質(zhì)量問題。這為產(chǎn)品的設(shè)計(jì)改進(jìn)和質(zhì)量控制提供了重要的數(shù)據(jù)支持，確保最終交付的產(chǎn)品符合高標(biāo)準(zhǔn)的質(zhì)量要求。

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