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手機(jī)制造全過程必須的可靠性測(cè)試：
1.可程式恒溫恒濕機(jī)（整機(jī)耐濕熱、高溫老化、冷溫儲(chǔ)存試驗(yàn)）-40~+150℃，濕度范圍30~98%RH。
2.冷熱沖擊機(jī)（用于產(chǎn)品研發(fā)，整機(jī)、電路板及電子元件篩選）低溫-65℃高溫150℃ 。
3.靜電放電發(fā)生器（用于產(chǎn)品研發(fā)，電路板上電子元件在儲(chǔ)運(yùn)、裝配及較為干燥環(huán)境使用時(shí)，可能因靜電導(dǎo)致?lián)p壞）靜電電壓20KV （正、負(fù)） 。
4.鹽霧試驗(yàn)機(jī)（用于模擬手機(jī)真實(shí)使用情況耐汗、潮濕及含鹽環(huán)境）。
5.紫外線老化箱（用于模擬手機(jī)曝曬環(huán)境，手機(jī)放在烈日下的汽車?yán)铩⒔纪?、沙灘使用時(shí)遇到的情況）。
6.砂塵試驗(yàn)箱（用于模擬手機(jī)在沙漠地帶、多沙、多塵等惡劣環(huán)境在使用情況）。
7.落球沖擊試驗(yàn)機(jī)（用于手機(jī)外殼涂料及殼體抗沖擊測(cè)試） 鋼球重量100、200、300、500、1000、2000g 沖擊高度200~2000mm。
8.電動(dòng)振動(dòng)試驗(yàn)（用于產(chǎn)品研發(fā)，模擬產(chǎn)品在運(yùn)輸過程中的振動(dòng)環(huán)境，提前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)及裝配過程存在的缺陷）頻率5000Hz 位移25mm 電腦控制 。
手機(jī)制造全過程必須的可靠性測(cè)試：
9.紙帶耐磨試驗(yàn)機(jī)（用于手機(jī)表面噴涂耐磨性能測(cè)試）介質(zhì)3M紙帶 荷重275、175、55g。
10.印刷體耐磨擦試驗(yàn)機(jī)（用于手機(jī)表面噴涂耐磨、劃痕性能測(cè)試）介質(zhì)酒精棉布、鉛筆、橡皮擦 荷重80~1000克。
11.按鍵壽命測(cè)試機(jī)（用于手機(jī)鍵盤之疲勞測(cè)試）荷重80克~500克 。
12.手機(jī)翻蓋壽命測(cè)試機(jī)（用于手機(jī)轉(zhuǎn)軸及上下蓋連接部分掀合可靠性測(cè)試）角度5~1800 速率5~60次。
13.手機(jī)跌落測(cè)試機(jī)（用于模擬手機(jī)在使用環(huán)境中落下之真實(shí)情況）介質(zhì)水泥地板、壓克力板、鋼板 跌落高度200~2000mm。
14.手機(jī)抗壓測(cè)試機(jī)（用于模擬手機(jī)外殼、LCD在使用時(shí)被擠壓之真實(shí)情況）壓力數(shù)字顯示，緩慢施壓、突然施壓兩種方式選擇。

公司主營(yíng)產(chǎn)品：冷熱沖擊試驗(yàn)箱、恒濕恒濕試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、步入式溫濕交變?cè)囼?yàn)室、高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn)機(jī)、高溫老化房、快速溫變?cè)囼?yàn)箱、高低溫低氣壓試驗(yàn)箱、PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱、紫外線耐候老化試驗(yàn)箱、氙燈耐候老化試驗(yàn)箱、耐寒折彎試驗(yàn)箱、砂塵試驗(yàn)箱、淋雨試驗(yàn)箱、臭氧老化試驗(yàn)箱、換氣老化試驗(yàn)箱、恒溫鼓風(fēng)干燥試驗(yàn)箱、太陽(yáng)光伏組件試驗(yàn)箱、振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)、跌落試驗(yàn)機(jī)、拉力試驗(yàn)機(jī)等可靠性試驗(yàn)設(shè)備以及定做非標(biāo)機(jī)型。

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