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　　單波長X熒光硅含量分析儀是由低功率X射線管發(fā)射的多波長X射線螢光，由雙曲面彎晶光學(xué)元件捕獲并聚焦，照射一個(gè)具有合適波長的單色X射線，可以激發(fā)樣品盒中被測樣品上硅元素K層中的電子，形成一個(gè)小點(diǎn)。單色主光束激發(fā)樣品并發(fā)射次級(jí)特征熒光X射線。只有波長為0.713nm的K被硅元素激發(fā)，通過第二雙曲彎曲晶體光學(xué)元件收集，通過適當(dāng)?shù)臋z測器測量X射線熒光，然后使用校準(zhǔn)方程轉(zhuǎn)換為被測樣品中的硅含量。

 

　　下面咱們來了解一下單波長X熒光硅含量分析儀的產(chǎn)品特點(diǎn)：

 

　　1、實(shí)時(shí)性：國內(nèi)的儀器絕大多數(shù)都是“離線”的實(shí)驗(yàn)室分析儀，個(gè)別的應(yīng)用到現(xiàn)場的也是“旁線”式的儀表，須經(jīng)過取樣、烘干、篩分、研磨、制樣等一系列繁雜的樣品前處理過程，幾個(gè)小時(shí)之后才能得到分析結(jié)果，數(shù)據(jù)結(jié)果有很大的滯后性.本產(chǎn)品1~3分鐘即可完成測量。

 

　　2、可靠性：采用常溫半導(dǎo)體探測器(SDD)，在常溫下具有與液氮下硅鋰漂移半導(dǎo)體探測器相同的能量分辨率，避開了儀器中的硅鋰漂移半導(dǎo)體探測器必須的液氮制冷裝置，大大降低了現(xiàn)場的維護(hù)強(qiáng)度，保障了操作人員的安全性，儀表現(xiàn)場運(yùn)行穩(wěn)定可靠。

 

　　3、代表性強(qiáng)：設(shè)計(jì)合理的測量裝置，測量池內(nèi)礦漿的流動(dòng)性好，并混合均勻，測量結(jié)果準(zhǔn)確反映了礦漿的真實(shí)情況。公司可根據(jù)用戶需求提供各種類型的取樣器：重力自流取樣器、壓力取樣器、縮分取樣站、配置取樣器等。

 

　　4、適應(yīng)性：測量不受濃度、粒度、氣泡、速度、分層等現(xiàn)場因素的影響，能夠適應(yīng)各種情況復(fù)雜、條件惡劣的工業(yè)現(xiàn)場。

 

　　5、研制了新穎的核電子技術(shù)、核能譜分析技術(shù)，能夠?qū)Χ喾N元素受激發(fā)后產(chǎn)生的復(fù)雜能譜進(jìn)行全面分析處理，消除了不同元素之間的相互干擾。

 

　　6、工作狀態(tài)穩(wěn)定，分析準(zhǔn)確度高，可靠性強(qiáng)，操作簡單，維護(hù)方便，軟件界面友好人性化。