電動薄層條帶點樣器 薄層點樣器 型號:TDSP-3
點樣是薄層色譜分析的zui關鍵步驟,決定著定量的準確性與重復性,圓點接觸點樣容易損傷色譜板與硅膠吸附,造成點樣量不準、空心與變形;同時圓點大小也難以控制,造成定量重現(xiàn)性不好;條帶點樣比單純圓點點樣有*的優(yōu)點:
1、可重復點樣,條帶擴散小,重復性好;
2、其次可以大容量點樣,避免濃縮損失;
3、非接觸點樣,硅膠不會粘附針尖,避免樣品損失;
4、是在薄層掃描定量時可以不必掃描樣品的全部也有很好的線性范圍;
本儀器底座為數(shù)控數(shù)顯加熱臺,內置勻熱板,比加蓋電爐型加熱臺控溫準確、加熱均勻,不漏電,安全性好,可以不需要另外購置薄層顯色加熱器;點樣臂設計精巧,點樣均勻穩(wěn)定,復位便捷,夾針機構構十分精巧。本儀器使用電機與組件,質量可靠,故障率低,是薄層實驗室的選擇。
電動薄層條帶點樣器 薄層點樣器
儀器組成:
1、 數(shù)控數(shù)顯加熱點樣臺;
2、 自動點樣臂;
3、 橫向點樣裝置;
4、 點樣氣泵;
5、 點樣噴嘴;
儀器指標:
1、點樣長度:0~300mm;
2、點樣寬度:0.7~3mm;標準1~2mm;
3、點樣溫度:室溫~100℃;
4、加熱溫度:室溫~300℃;
5、點樣方式:圓點、條帶、方型、線狀點樣;
特別推薦:如有更高要求,請選用SP-20E型全自動薄層點樣器
較低要求可選用TDSP-II型電動薄層點樣儀
![]() | 產品名稱:沖擊試樣缺口投影儀 試樣缺口投影儀 產品型號: CST-50 |
沖擊試樣缺口投影儀 試樣缺口投影儀 型號:CST-50
一、 概述:
沖擊試樣投影儀是我們根據(jù)目前國內廣大用戶的實際需求和GB/T229—94《金屬夏比缺口沖擊試驗方法》中擊試樣缺口的要求而設計、開發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質量的光學儀器,該沖擊試樣投影儀是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標準樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點是操作簡便,檢查對比直觀,效率高。
二、 沖擊試樣投影儀技術指標:
1、 規(guī)格型號:CST-50
2、 投影屏直徑 :180mm
3、 工作臺尺寸 :
1)方工作臺尺寸:110×125mm
2)方工作臺直徑:90mm
3)工作臺玻璃直徑:70mm
4、 工作臺轉動范圍: 0~360°(無刻度)
5、 儀器放大倍率:50X
6、 光源(鹵鎢燈):12V 100W
7、 電源: 220V 50Hz
8、外形尺寸:515×224×603mm
9、重量: 18kg
備注:本系列沖擊試樣投影儀參數(shù)僅供參考,如有改動恕不另行通知,以公司產品實物為準。
三、 設備主要配置:
1.CST-50投影儀主機 一臺
2.底座調整鈕 四個
3.電源線 一根
4.鹵鎢燈 二個
5.平板玻璃 一塊
![]() | 產品名稱:鉗形表 產品型號:FZ-DM3218+ |
特點:
1、便攜性設計,使用方便;
2、鉗頭具有雙層保護緣,強化了抗干擾性;
3、非接觸式測量,提高了測量安全性;
4、結構設計嚴緊、合理。
基本功能 | 量程. | 基本準確度 | |
直流電壓 | 200mV/2V/20V/200V/600V | ±(0.5%+3) | |
交流電壓 | 2V/20V/200V/600V | ±(0.8%+5) | |
直流電流 | 200uA/2000uA/20mA/200mA(表筆測量) | ±(1.2%+3) | |
交流電流 | 200uA/2000uA /20mA/200mA(表筆測量) | ±(1.8%+3) | |
2A/20A/200A/500A(鉗頭測量) | ±(2.5%+5) | ||
電阻 | 200Ω/2kΩ/20kΩ/200kΩ/2MΩ/20MΩ | ±(1.0%+2) | |
特殊功能 | DM3218+ | ||
二管測試 | √ | ||
通斷報警 | √ | ||
低電壓顯示 | √ | ||
保持 | zui大值/峰值保持 | ||
自動關機 | √ | ||
功能保護 | √ | ||
輸入阻抗 | 10MΩ | ||
采樣頻率 | 3次/s | ||
交流頻響 | (40-400)Hz | ||
操作方式 | 手動/自動 | ||
zui大顯示 | 1999 | ||
鉗口張開 | 30mm | ||
電源 | 3V(1.5V×2) | ||
|一|般|特|征|
機身顏色 | 機身-深灰 |
機身重量 | 約170g(含3V電池) |
標準配件 | 表筆,電池,說明書,合格證,皮盒 |
標準內包裝 | 彩盒 |
外包裝尺寸 | 465×317×506mm |
標準包裝數(shù)量 | 40臺 |
標準包裝箱毛重 | 約14kg |