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K-TEK射空雷達(dá)
點(diǎn)擊次數(shù)：1539 發(fā)布時間：2013-4-23
1、測量原理以及產(chǎn)品簡介
測量原理
能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收，雷達(dá)波以光速運(yùn)行，
雷達(dá)脈沖接觸到介質(zhì)后被反射，雷達(dá)脈沖的運(yùn)行時間與探頭到介質(zhì)表面的距離成
正比,從而測量出物位。
輸入
天線接受反射的微波脈沖并將其傳輸給電子線路，微處理器對此信號進(jìn)
行處理，是別出微波脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波識別信號由
智能軟件完成，精度可達(dá)毫米級。
距離物料表面的距離D與脈沖的時間行程T成正比：
D=C×T/2其中C為光速
因空罐的距離E已知，則物位L為：L=E-D
輸出
通過輸入空罐高度E（零點(diǎn)），滿罐高度F（滿量程）及一些應(yīng)用參數(shù)來設(shè)
定，應(yīng)用參數(shù)將自動使儀表適應(yīng)測量環(huán)境。對應(yīng)于4mA到20mA輸出。
不受溫度和壓力的影響
微波的運(yùn)行幾乎不受環(huán)境溫度和壓力的影響，雷達(dá)式傳感器非常適用于復(fù)雜
的過程工藝條件。過程壓力從真空到41bar，過程溫度-40～200℃，經(jīng)實(shí)際應(yīng)用
效果*。
不受被測介質(zhì)的特性影響
被測介質(zhì)的成分變化（介電常數(shù)大于1.4）時，測量效果不受影響，且不需
重新調(diào)試。
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