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當前位置:上海富瞻環(huán)??萍加邢薰?/a>>>光譜色譜波譜質譜>>X射線儀器>> M4 TORNADO PLUS超輕元素微區(qū)X射線熒光成像光譜儀M4 PLUS
參 考 價 | 面議 |
產品型號M4 TORNADO PLUS
品 牌Bruker/布魯克
廠商性質生產商
所 在 地上海市
更新時間:2023-12-29 17:29:21瀏覽次數(shù):295次
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M4 TORNADO PLUS 產品簡介:
超輕元素微區(qū)X射線熒光成像光譜儀M4 TORNADO PLUS是布魯克微區(qū)X射線熒光光譜儀M4 TORNADO 系列的新產品,擁有更多特性和功能,例如可檢測出C(6)- Am(95)間全部元素的強大性能、創(chuàng)新性的孔徑管理系統(tǒng),高通量脈沖處理器以及快速靈活更換的樣品臺等。
產品特點:
· 超輕元素窗口SDD探測器,可檢測到輕質元素,如碳元素等
· 高通量脈沖處理器,有效減少測樣時間,提高測試效率
· 孔徑管理系統(tǒng),更大景深,對表面不平整樣品分析具有特別的優(yōu)勢
· 快速靈活的樣品臺(可選),模塊化的樣品臺接口,減少樣品的更換和準備時間
· 配備準直器的第二個X射線光管(可選),四種光斑尺寸,高能量線性分析更靈活
· 氦氣吹掃功能(可選),增加元素的分析范圍,在常壓下進行輕質元素分析
應用實例:
1、超輕元素探測器區(qū)分螢石和方解石
螢石(CaF2)和方解石(CaCO3)都是以鈣為主要成分的礦物。它們的區(qū)別在于分別存在輕質元素氟(F),氧(O),碳(C),因此無法使用普通的X射線光譜儀來進行檢測區(qū)分。M4 TORNADO PLUS具備超輕元素探測器,可以有效的檢測到氟(F)、氧(O)和碳(C)元素,從而可靠地鑒別這兩種礦物。
2、在孔徑管理系統(tǒng)(AMS)下分析電路板
M4 TORNADO PLUS 所具備的孔徑管理系統(tǒng)(AMS)能夠有效提高景深和空間分辨率,景深可達±5mm。這意味著即使樣本表面高度在幾毫米內變化,空間分辨率也不會受損,并且始終保證聚焦樣品特征處。這使得本設備在面對一些對表面分析有更高要求的行業(yè)樣本時更具優(yōu)勢,例如電子學,刑偵或地球科學等。
由于AMS的場深度極深,如圖所示電路板的X射線圖像獲得更多的細節(jié)。此外,由于激發(fā)X射線光子的入口和出口角度減小,光束能量依賴性變得不那么明顯
更多應用案例
M4 Tornado 系列的微區(qū)X射線熒光光譜儀具有廣泛的應用環(huán)境,目前已經在植物環(huán)境、科技考古、地球科學、材料科學、生物工程等領域有著諸多的應用案例。該設備在國內外有專業(yè)的應用開發(fā)人員,專注于新應用領域的開發(fā)。
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