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常見(jiàn)電子顯微鏡的分類,常見(jiàn)電子顯微鏡包括哪幾種？- STM/SEM /TEM!
常見(jiàn)電子顯微鏡家族還包括下列這三種
STM ：scanning tunneling microscope 掃描穿遂式電子顯微鏡 是一種利用量子力學(xué)中的穿隧效應(yīng)探測(cè)物質(zhì)表面結(jié)構(gòu)的儀器，可以在 低溫下利用探針準(zhǔn)確操作原子，例如做一些圖形。
SEM ：scanning electron microscopy 掃描式電子顯微鏡 利用電磁透鏡聚焦高能的電子束而在試片掃描樣品依其所激發(fā)出的二 次電子與背向散射電子的接收對(duì)試片表面進(jìn)行分析，可獲得試片表面 的化學(xué)成分，晶體缺陷等信息，是對(duì)固體物質(zhì)表面進(jìn)行綜合分析的儀器。
STEM：scanning & transmission electron microscop 描穿透式電子顯微鏡 即包含掃描式電子顯微鏡與穿透式電子顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)。
HRTEM：high resolution transmission electron microscop 高解析穿透式電子顯微鏡 比TEM觀測(cè)尺度更小，可以觀測(cè)到小于1埃的尺度 （1埃=10-10m）
TEM工作原理 在1924年 Louis de Broglie提出電子具有波動(dòng)的特性（1929年諾貝爾物理獎(jiǎng)），與光學(xué)顯微鏡的原理，利用光的波長(zhǎng)來(lái)決定影像的解析度。Broglie的坡動(dòng)說(shuō)，無(wú)疑地提供了電子顯微鏡的理論基礎(chǔ)；1926年，Busch發(fā)現(xiàn)電子經(jīng)過(guò)電磁場(chǎng)會(huì)發(fā)生偏折，這與光線經(jīng)過(guò)透鏡發(fā)生偏折類似。 顧名思義，穿透式電子顯微鏡里的穿透，便是高能電子束能量遠(yuǎn)大于物體本身的位壘，