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電子顯微鏡之的發(fā)展歷程簡介-光學儀器小常識
閱讀：2644 發(fā)布時間：2013-1-15
電子顯微鏡之歷史演進
光學顯微鏡（Light Microscopes）受限于波長繞射的限制，因此解析度只能到300nm左右。
為突破對物體微觀世界之觀察，開始有電子顯微鏡（Electron Microscopes）之發(fā)展。自十九世紀末（西元1897年）英國科學家湯姆森（J.J. Thomson）發(fā)現(xiàn)電子（Electron）以來，
在十九世紀末二十世紀初，許多的物理理論相繼發(fā)展與驗證，這些科學發(fā)展也奠定電子波質(zhì)二元論之基礎。
1927 年美國 Davisson和Germer兩氏以電子繞射實驗證實了電子的波動性。之后J.J. Thomson作陰極射線管實驗時，
觀察到電場及磁場可偏折電子束。因此后人開始利用此一觀點，藉由電磁場聚焦電子產(chǎn)生放大作用。電磁場對電子之作用與光學透鏡對光波之作用非常相似，
因而發(fā)展出電磁透鏡。為探討奈米尺度物體之微觀世界，電子顯微鏡之技術隨著時代不斷的改進，以滿足人類對物體之奈米世界的渴望。
談到電子顯微鏡，我們一定會提到對此領域相當有貢獻之諾貝爾獎得主：Ruska。1932年Ruska與Knoll將電磁透鏡之構想應用在實際之實驗儀器上，
之后于1934年Ruska在其實驗室制作出*部穿透式電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope；TEM）。
參考資料
http://www.bjsgyq.com/體視顯微鏡 ， 顯微鏡
http://www.bjsgyq.com/體視顯微鏡 ， 顯微鏡