飛納臺式掃描電鏡為光子晶體光纖發(fā)展開辟新路

光子晶體光纖（Photonic Crystal Fibers，PCF）又稱為微結(jié)構(gòu)光纖（Micro-StructuredFibers，MSF），這種光纖的橫截面上有較復雜的折射率分布，通常含有不同排列形式的小孔，如圖 1 所示。這些小孔的尺度與光波波長大致在同一量級且貫穿器件的整個長度，光波可以被限制在低折射率的光纖芯區(qū)傳播。

圖 1 不同結(jié)構(gòu)的光子晶體光纖

光子晶體光纖（微結(jié)構(gòu)光纖）按照其導光機理可以分為兩大類：折射率導光型（IG-PCF）和帶隙引導型（PCF）。

折射率引導型光子晶體光纖（微結(jié)構(gòu)光纖，PCF）具有無截止單模特性、大模場尺寸/小模場尺寸和色散可調(diào)特性等特性。廣泛應用于色散控制（色散平坦，零色散位移可以到 800nm），非線性光學（高非線性，超連續(xù)譜產(chǎn)生），多芯光纖，有源光纖器件（雙包層 PCF 有效束縛泵浦光）和光纖傳感等領(lǐng)域。

空隙帶隙型光子晶體光纖（微結(jié)構(gòu)光纖，PCF）具有易耦合，無菲涅爾反射，低彎曲損耗、低非線性和特殊波導色散等特點被廣泛應用于高功率導光，光纖傳感和氣體光纖等方面。

在光子晶體光纖的生產(chǎn)中對光纖小孔的尺寸控制尤其重要，其嚴重影響著該光纖的性能。利用飛納臺式掃描電鏡和其孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)可在生產(chǎn)流程中快速識別光纖中的孔洞，（如圖 2 和圖 3 所示）在低倍和高倍下孔洞邊緣均可以識別準確清晰，并直接給出孔洞的面積，長軸，短軸，長寬比，平均直徑等參數(shù)（如圖 4 所示），為得到高質(zhì)量的光子晶體光纖提供有力保障。

圖 2 利用飛納電鏡孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)自動識別光子晶體光纖的孔洞（4600 倍）

圖 3 利用飛納電鏡孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)自動識別光子晶體光纖的孔洞（15500 倍）

圖 4 飛納電鏡孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)給出識別的各個孔洞面積，長短軸，長寬比和平均直徑參數(shù)

飛納臺式掃描電鏡孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)軟件可以輕松獲取、分析圖片，并生成報告。借助該軟件，用戶不僅可以獲取孔徑的統(tǒng)計分布信息，同時可以獲得每個孔徑的屬性參數(shù)，如孔徑尺寸、長軸短軸比等。

主要特點

1、從飛納電鏡中直接獲取圖像；

2、測量孔徑的屬性數(shù)據(jù)，如面積、長軸、短軸等；

3、操作快捷方便，提高工作效率，使工作安排簡單化、可預測；

4、圖像采集自由化，數(shù)據(jù)可存儲在網(wǎng)絡和 U 盤，便于分享、交流和參閱；

5、導出統(tǒng)計數(shù)據(jù)時，可同時導出清晰圖片

光子晶體光纖的發(fā)展為光纖傳感開拓了廣闊的空間，尤其是在生物傳感和氣體傳感方面為光纖傳感技術(shù)帶來新的發(fā)展。飛納臺式掃描電鏡為光子晶體光纖發(fā)展開辟新路，利用這一有效工具，期待光子晶體光纖取得更快的發(fā)展。