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按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)的功能
按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)的功能
用于測(cè)試各種按鍵、開關(guān)以及電腦鍵盤、觸控面板、薄膜開關(guān)等產(chǎn)品的使用壽命，儀器通過電腦進(jìn)行程控測(cè)試，可以對(duì)10個(gè)按鍵進(jìn)行測(cè)試和智能分析，在線監(jiān)控并實(shí)時(shí)檢測(cè)按鍵開關(guān)短路、斷線、接觸不良、閉合不良、彈開不良的各種不良狀況、自動(dòng)計(jì)算合格率、可靠閉合率、彈開率、按壓次數(shù)、接通次數(shù)、斷開次數(shù)等等各種參數(shù)，儀器可以對(duì)任何一個(gè)按鍵進(jìn)行單獨(dú)設(shè)定，也可以同時(shí)對(duì)10個(gè)以內(nèi)的被測(cè)按鍵進(jìn)行各種數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)和分析，自動(dòng)保存測(cè)試結(jié)果，自動(dòng)生成測(cè)試曲線圖譜。
按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)功能參數(shù)
測(cè)試鍵數(shù)：10個(gè)(可以擴(kuò)充到128個(gè))。
按鍵次數(shù)：1—9999999次任意設(shè)定。
按鍵壓力：按鍵壓力大小可以任意調(diào)節(jié)。
按鍵方式：可以設(shè)定各種按鍵的方式、按鍵頻率、下壓延時(shí)、彈開延時(shí)、閉合時(shí)間、斷開時(shí)間、間斷性測(cè)試（間斷性測(cè)試方式可以避免因過度疲勞老化的原因造成的測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確）、 自編程測(cè)試等等。
數(shù)據(jù)設(shè)定：可以設(shè)定任何一個(gè)按鍵的測(cè)試次數(shù)（1-9999999次）。
自動(dòng)計(jì)數(shù)：自動(dòng)記錄按鍵的動(dòng)作次數(shù)、閉合次數(shù)、斷開次數(shù)、接觸不良次數(shù)等等，自動(dòng)統(tǒng)計(jì)所有按鍵的相關(guān)數(shù)據(jù)，自動(dòng)對(duì)批量按鍵的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分類保存。
智能分析：自動(dòng)對(duì)測(cè)試過程中所記錄的所有數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，自動(dòng)計(jì)算被測(cè)按鍵的可靠閉合率和閉合后的可靠彈開率，自動(dòng)分析多個(gè)按鍵同時(shí)檢測(cè)時(shí)的測(cè)試數(shù)據(jù)，批量數(shù)據(jù)處理，實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)動(dòng)態(tài)報(bào)告當(dāng)前測(cè)試結(jié)果。
電阻監(jiān)控：實(shí)時(shí)監(jiān)控連接按鍵的線路電阻阻值。
批量處理：壽命測(cè)試一般都屬于抽檢測(cè)測(cè)試，采用隨機(jī)取樣、批量處理的檢測(cè)方式和批量數(shù)據(jù)分析可以得到更準(zhǔn)確和更具參考價(jià)值的測(cè)試結(jié)果，使測(cè)試數(shù)據(jù)更具代表性。按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)的應(yīng)用 按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)用于對(duì)電腦、手機(jī)、計(jì)算器、記事本，鍵盤，開關(guān)等按鍵壽命進(jìn)行測(cè)試。
用于測(cè)試各種按鍵、開關(guān)以及電腦鍵盤、觸控面板、薄膜開關(guān)等產(chǎn)品的使用壽命，儀器通過電腦進(jìn)行程控測(cè)試，可以對(duì)10個(gè)按鍵進(jìn)行測(cè)試和智能分析，在線監(jiān)控并實(shí)時(shí)檢測(cè)按鍵開關(guān)短路、斷線、接觸不良、閉合不良、彈開不良的各種不良狀況、自動(dòng)計(jì)算合格率、可靠閉合率、彈開率、按壓次數(shù)、接通次數(shù)、斷開次數(shù)等等各種參數(shù)，儀器可以對(duì)任何一個(gè)按鍵進(jìn)行單獨(dú)設(shè)定，也可以同時(shí)對(duì)10個(gè)以內(nèi)的被測(cè)按鍵進(jìn)行各種數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)和分析，自動(dòng)保存測(cè)試結(jié)果，自動(dòng)生成測(cè)試曲線圖譜。
按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)功能參數(shù)
測(cè)試鍵數(shù)：10個(gè)(可以擴(kuò)充到128個(gè))。
按鍵次數(shù)：1—9999999次任意設(shè)定。
按鍵壓力：按鍵壓力大小可以任意調(diào)節(jié)。
按鍵方式：可以設(shè)定各種按鍵的方式、按鍵頻率、下壓延時(shí)、彈開延時(shí)、閉合時(shí)間、斷開時(shí)間、間斷性測(cè)試（間斷性測(cè)試方式可以避免因過度疲勞老化的原因造成的測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確）、 自編程測(cè)試等等。
數(shù)據(jù)設(shè)定：可以設(shè)定任何一個(gè)按鍵的測(cè)試次數(shù)（1-9999999次）。
自動(dòng)計(jì)數(shù)：自動(dòng)記錄按鍵的動(dòng)作次數(shù)、閉合次數(shù)、斷開次數(shù)、接觸不良次數(shù)等等，自動(dòng)統(tǒng)計(jì)所有按鍵的相關(guān)數(shù)據(jù)，自動(dòng)對(duì)批量按鍵的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分類保存。
智能分析：自動(dòng)對(duì)測(cè)試過程中所記錄的所有數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，自動(dòng)計(jì)算被測(cè)按鍵的可靠閉合率和閉合后的可靠彈開率，自動(dòng)分析多個(gè)按鍵同時(shí)檢測(cè)時(shí)的測(cè)試數(shù)據(jù)，批量數(shù)據(jù)處理，實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)動(dòng)態(tài)報(bào)告當(dāng)前測(cè)試結(jié)果。
電阻監(jiān)控：實(shí)時(shí)監(jiān)控連接按鍵的線路電阻阻值。
批量處理：壽命測(cè)試一般都屬于抽檢測(cè)測(cè)試，采用隨機(jī)取樣、批量處理的檢測(cè)方式和批量數(shù)據(jù)分析可以得到更準(zhǔn)確和更具參考價(jià)值的測(cè)試結(jié)果，使測(cè)試數(shù)據(jù)更具代表性。按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)的應(yīng)用 按鍵壽命試驗(yàn)機(jī)用于對(duì)電腦、手機(jī)、計(jì)算器、記事本，鍵盤，開關(guān)等按鍵壽命進(jìn)行測(cè)試。