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詳細(xì)摘要： PILATUS3XCdTe混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器 新一代表現(xiàn)更加出色的PILATUS3混合像素X射線探測(cè)器，采用更加*的碲化鎘（CdTe）材料作為傳感器P...

詳細(xì)摘要： DECTRIS 混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器 PILATUS3 R CdTe系列結(jié)合了無(wú)噪聲單光子計(jì)數(shù)的優(yōu)點(diǎn)和在大型碲化鎘（CdTe）傳感器中直接檢測(cè)硬X射線的...

詳細(xì)摘要： PILATUS3 X 混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器PILATUS3 X 混合光子計(jì)數(shù)（HPC）探測(cè)器經(jīng)過(guò)重新設(shè)計(jì)，該系列探測(cè)器基于同步輻射技術(shù)，并融合了兩種關(guān)鍵...

詳細(xì)摘要： PILATUS3 S 混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器PILATUS3 S 混合光子計(jì)數(shù)（HPC）探測(cè)器經(jīng)過(guò)重新設(shè)計(jì)，該系列探測(cè)器基于同步輻射技術(shù)，并融合了兩種關(guān)鍵...

詳細(xì)摘要： PILATUS3 R 混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器PILATUS3 R 混合光子計(jì)數(shù)（HPC）探測(cè)器經(jīng)過(guò)重新設(shè)計(jì)，該系列探測(cè)器基于同步輻射技術(shù)，并融合了兩種關(guān)鍵...

詳細(xì)摘要： MYTHEN2 X混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器MYTHEN探測(cè)器系統(tǒng)*轉(zhuǎn)變了X-射線粉末衍射晶體學(xué)的標(biāo)準(zhǔn)定義，呈現(xiàn)出另一個(gè)層面：時(shí)間。這一令人振奮的新領(lǐng)域與MY...

詳細(xì)摘要： MYTHEN2 R混合像素光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器 MYTHEN系列微帶探測(cè)器充分利用了混合光子計(jì)數(shù)（HPC）技術(shù)的所有優(yōu)勢(shì)：如無(wú)噪音、高速采集、耐輻射性能*等，并...

詳細(xì)摘要： 電荷靈敏放大器出：能量信號(hào)E口和定時(shí)信號(hào)T口噪聲探測(cè)器電容pF 典型值 保證值0 295rms 電子340rms 電子100450rms 電子

詳細(xì)摘要： 核電子學(xué)NIM機(jī)箱/電源插件 NIM機(jī)箱/96W電源（±12V, ±24V）輸出電源/大電流 ±12V/2A，±24V/...

詳細(xì)摘要： 前放 儀器主要包括：前置放大器、放大器、時(shí)間校準(zhǔn)、單道脈沖分析器、計(jì)數(shù)/計(jì)時(shí)器和率表、延遲發(fā)生器、邏輯模塊和線性門(mén)、快速時(shí)間鑒別器、CAMAC ADC、高壓偏置...

詳細(xì)摘要： PMT前置放大器 儀器主要包括：前置放大器、放大器、時(shí)間校準(zhǔn)、單道脈沖分析器、計(jì)數(shù)/計(jì)時(shí)器和率表、延遲發(fā)生器、邏輯模塊和線性門(mén)、快速時(shí)間鑒別器、CAMAC AD...

詳細(xì)摘要： 高純鍺HPGe伽馬γ能譜儀高純鍺伽馬能譜儀通常由：高純鍺探測(cè)器，譜儀，制冷器，鉛室，軟件等五部分組成。

詳細(xì)摘要： ORTEC四路低本底α/β計(jì)數(shù)器低本底α/β檢測(cè)儀是一種測(cè)量低水平α、β放射性強(qiáng)度的精密儀器?？捎糜谒?、食品、土壤、建材、礦石、氣溶膠、沉積物等樣品的總α、總β...

詳細(xì)摘要： ORTEC在alpha譜儀上采用超低本底和PIPS工藝（表面鈍化、離子注入、可擦洗）硅探測(cè)器，同時(shí)真空艙室也為超低本底材料。面積上提供300、450、490、6...

詳細(xì)摘要： GMX40-76-LB高純鍺（HPGe）伽馬γ能譜儀半導(dǎo)體（高純鍺和Si（Li））探測(cè)器擁有精銳的能量分辨率，由其組成的γ和X射線能譜測(cè)量技術(shù)與產(chǎn)品，不僅是核結(jié)...

詳細(xì)摘要： GEM-C7080-LB-C高純鍺（HPGe）伽馬γ能譜儀半導(dǎo)體（高純鍺和Si（Li））探測(cè)器擁有精銳的能量分辨率，由其組成的γ和X射線能譜測(cè)量技術(shù)與產(chǎn)品，不僅...

詳細(xì)摘要： 全自動(dòng)低本底多道γ能譜儀RT-50，實(shí)驗(yàn)室伽瑪射線能譜分析儀是專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于監(jiān)測(cè)和檢測(cè)各種金屬材料、建筑材料、金屬制品、地質(zhì)樣品、環(huán)境采樣樣品及食品中可能存在的放...

詳細(xì)摘要： GEM50-83-LB-C高純鍺（HPGe）伽馬γ能譜儀半導(dǎo)體（高純鍺和Si（Li））探測(cè)器擁有精銳的能量分辨率，由其組成的γ和X射線能譜測(cè)量技術(shù)與產(chǎn)品，不僅是...

詳細(xì)摘要： GEM60P4-83-HE高純鍺探測(cè)器半導(dǎo)體（高純鍺和Si（Li））探測(cè)器擁有精銳的能量分辨率，由其組成的γ和X射線能譜測(cè)量技術(shù)與產(chǎn)品，不僅是核結(jié)構(gòu)、分子物理、...

詳細(xì)摘要： GEM50P4-83-RB高純鍺（HPGe）伽馬γ能譜儀半導(dǎo)體（高純鍺和Si（Li））探測(cè)器擁有精銳的能量分辨率，由其組成的γ和X射線能譜測(cè)量技術(shù)與產(chǎn)品，不僅是...