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詳細摘要： Gemini VII 2390 炭黑比表面積分析儀使用簡單、可靠性高且堅固耐用，可快速可靠且可重復的表面積和孔隙率結果，支持用 N2 測量低表面積材料，該設計不...

詳細摘要： ASAP 2460 多站式全自動比表面積分析儀功能多樣的分析和樣品制備系統(tǒng)，可實現(xiàn)高通量測試，分析過程中可根據(jù)需要在可用分析站裝載或卸載樣品，

詳細摘要： TriStar II 3030 炭黑比表面積分析儀用于高精度的氣體管理，能夠在碳微孔分析中同時利用CO2與N2兩個等溫線通過NLDFT理論來計算全范圍孔徑，交互...

詳細摘要： Gemini VII 2390 比表面積分析儀具備了測量完整的吸附-脫附等溫線，以及使用多達 1000 個數(shù)據(jù)點通過 BJH 或 DH 法測量孔徑分布的功能，系...

詳細摘要： Gemini VII 2390 全自動快速比表面積與孔隙度分析儀采用的適應速率給氣法，是一種靜態(tài)容量方法，是教學、科研、環(huán)境質量控制的理想工具，簡單易懂的安裝視...

詳細摘要： TriStar II Puls 全自動比表面積與孔隙度分析儀直接處理吸附數(shù)據(jù)，通過簡單的移動計算條，一鍵式訪問重要的參數(shù)，允許用戶自定義多達五份報告，可在屏幕上...

詳細摘要： TriStar II 3030 全自動比表面積與孔隙度分析儀能夠在碳微孔分析中同時利用CO2與N2兩個等溫線通過NLDFT理論來計算全范圍孔徑，直接處理吸附數(shù)據(jù)...

詳細摘要： ASAP 2020 PLUS 全自動靜態(tài)化學吸附儀用于測量粉末和多孔材料的表面積、孔徑和孔容，應用范圍，使其兼具物理和化學吸附功能，可表征催化劑、催化劑載體、傳...

詳細摘要： MIC SAS II 全自動亞篩分粒徑分析儀過改變樣品高度和孔隙率，同時控制一定流速通過顆粒床層，使用Kozeny-Carman方程確定SSA和平均粒徑，可在獲...

詳細摘要： ICCS 催化劑原位表征系統(tǒng)用于監(jiān)測流入和流出反應器的氣體濃度變化，無需添加任何額外的催化劑或將催化劑轉移到不同的設備，用戶可以繼續(xù)對*相同的樣品進行反應研究，...

詳細摘要： 穿透曲線分析儀 BTA廣泛應用于氣體分離、儲存和凈化、二氧化碳捕獲和能量儲存等領域，用于收集多組分系統(tǒng)的瞬態(tài)和平衡吸附數(shù)據(jù)，可重復地表征吸附劑，使用全面的分析方...

詳細摘要： FlowSorb III動態(tài)吸附比表面積分析儀適用于各種表面積測量，采用流動氣體法測試比表面積，儀器在大氣壓力下用持續(xù)流動的吸附氣體與惰性氣體的混合氣進行測試

詳細摘要： 3Flex藥品比表面積分析儀用于驗證理論、規(guī)范設計和合成方法，可廣泛用于MOFs材料、分子篩、活性炭以及其他產品。利用微孔以及介孔高測試量設計，3Flex可快速...

詳細摘要： ASAP 2020 PLUS 全自動比表面積及孔隙分析儀應用范圍使其兼具物理和化學吸附功能，可表征催化劑、催化劑載體、傳感器等和材料的紋理和活性表面，比表面積、...