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新產品-非接觸電阻率測試儀 非接觸厚度測試儀 非接方塊電阻觸測試儀 型號:HAD-JXNR
一、產品特點
1.非接觸測量硅半導體材料的電阻率
2.適合測試硅片,不損傷樣品表面。
3.采用通用PC處理數據,方便數據存儲、打印
4.軟件界面直觀友好
5.樣片校準快速、方便
二、推薦工作條件
1. 溫度:23±2℃
2. 濕度:60%~70%
3. 無強光照、無強磁場、不與高頻設備鄰近
三、參數指標
1.整機尺寸:340mm×260mm×150mm
2.電阻率量程:0.1~50Ω﹡㎝
3.誤差范圍:±5%
4.硅片厚度:適合150-600um厚度
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