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北京恒奧德科技有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第14年

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新產(chǎn)品-非接觸電阻率測(cè)試儀 非接觸厚度測(cè)試儀 非接方塊電阻觸測(cè)試儀HAD-JXNR

時(shí)間:2013/7/25閱讀:932
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新產(chǎn)品-非接觸電阻率測(cè)試儀 非接觸厚度測(cè)試儀 非接方塊電阻觸測(cè)試儀 型號(hào):HAD-JXNR

 

 

一、產(chǎn)品特點(diǎn)

1.非接觸測(cè)量硅半導(dǎo)體材料的電阻率

2.適合測(cè)試硅片,不損傷樣品表面。

3.采用通用PC處理數(shù)據(jù),方便數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、打印

4.軟件界面直觀友好

5.樣片校準(zhǔn)快速、方便

 

二、推薦工作條件

1. 溫度:23±2℃

2. 濕度:60%~70%

3. 無強(qiáng)光照、無強(qiáng)磁場(chǎng)、不與高頻設(shè)備鄰近

三、參數(shù)指標(biāo)

1.整機(jī)尺寸:340mm×260mm×150mm

2.電阻率量程:0.1~50Ω

3.誤差范圍:±5%

4.硅片厚度:適合150-600um厚度

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