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新產(chǎn)品-非接觸電阻率測試儀 非接觸厚度測試儀 非接方塊電阻觸測試儀HAD-JXNR

時間:2013/7/25閱讀:934
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新產(chǎn)品-非接觸電阻率測試儀 非接觸厚度測試儀 非接方塊電阻觸測試儀 型號:HAD-JXNR

 

 

一、產(chǎn)品特點

1.非接觸測量硅半導體材料的電阻率

2.適合測試硅片,不損傷樣品表面。

3.采用通用PC處理數(shù)據(jù),方便數(shù)據(jù)存儲、打印

4.軟件界面直觀友好

5.樣片校準快速、方便

 

二、推薦工作條件

1. 溫度:23±2℃

2. 濕度:60%~70%

3. 無強光照、無強磁場、不與高頻設備鄰近

三、參數(shù)指標

1.整機尺寸:340mm×260mm×150mm

2.電阻率量程:0.1~50Ω

3.誤差范圍:±5%

4.硅片厚度:適合150-600um厚度

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