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| 產(chǎn)品名稱：半導體中空玻璃露點儀 中空玻璃露點儀 產(chǎn)品型號：HAD-ZK-I |
一、 用途 露點儀是根據(jù)中華人民共和國國定標準GB/T11944-2002《中空玻璃》研制的中空玻璃的檢測儀器。使用于中空玻璃、真空玻璃及密封玻璃制品的露點檢測。廣泛用于玻璃深加工企業(yè)的質(zhì)量控制和各級質(zhì)量監(jiān)督檢測。 二、 儀器結(jié)構(gòu)與工作原理 本儀器由低溫測試頭和制冷機組組成，通過測試頭和被檢測樣品的緊密接觸，使樣品表面局部冷卻，當達到一定溫度后，內(nèi)部水氣在冷點部分結(jié)露或結(jié)霜。露點儀主要檢測樣品在某一溫度下是否結(jié)露或結(jié)霜。 三、 規(guī)格及主要參數(shù) 1、低溫測試頭表面直徑：50mm。 2、測溫范圍：-60-0℃ 準確度：0.5% 3、工作電壓：220伏 4、使用環(huán)境：溫度0-50℃ 四、設(shè)備清單 1．制冷主機 1套 2．低溫測試頭 1個 3．真空吸盤 1個 4．產(chǎn)品合格證 1份 5．產(chǎn)品說明書 1份 |
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