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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
選擇電弱點(diǎn)測(cè)試儀不能忽視的幾個(gè)要點(diǎn)？
選擇電弱點(diǎn)測(cè)試儀不能忽視的幾個(gè)要點(diǎn)？
選擇電弱點(diǎn)測(cè)試儀要點(diǎn)：
1.符合標(biāo)準(zhǔn)：
電弱點(diǎn)測(cè)試儀必須符合相關(guān)行業(yè)或國(guó)家的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范，以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。用戶應(yīng)仔細(xì)查閱相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范，確保所選設(shè)備符合自己的測(cè)試需求。
2.安全裝置：
測(cè)試儀必須配備完善的安全裝置，如過(guò)載保護(hù)、短路保護(hù)、接地保護(hù)等。
這些安全裝置能夠在測(cè)試儀出現(xiàn)異常時(shí)及時(shí)切斷電源或采取其他保護(hù)措施。
3.技術(shù)指標(biāo)：
技術(shù)指標(biāo)是衡量測(cè)試儀性能的關(guān)鍵因素，包括測(cè)量電壓、精度、測(cè)試寬度等。用戶應(yīng)根據(jù)自己的測(cè)試需求選擇合適的測(cè)試儀。
華測(cè)儀器生產(chǎn)的電弱點(diǎn)測(cè)試儀
1.華測(cè)儀器生產(chǎn)的電弱點(diǎn)測(cè)試儀依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：
IEC 60674-2:2009 電氣用塑料薄膜 第2部分：試驗(yàn)方法及其第1次修正（2001） GB/T13542-92《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》而設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。
2.華測(cè)儀器生產(chǎn)的電弱點(diǎn)測(cè)試儀具備的安全裝置：
華測(cè)儀器電弱點(diǎn)測(cè)試儀采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)，不僅具備過(guò)壓、過(guò)流保護(hù)系統(tǒng)，而且還有雙系統(tǒng)互鎖機(jī)制，當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問(wèn)題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時(shí)，將瞬間切斷高壓。將起到對(duì)控制系統(tǒng)的絕對(duì)防護(hù)。
3.華測(cè)儀器生產(chǎn)的電弱點(diǎn)測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)：
測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無(wú)須將膜分切成小卷。
試驗(yàn)電壓精度：≤2 %
測(cè)試電壓：DC：50V-6KV AC：50V-5KV
樣品有效厚度范圍：450mm
設(shè)備容量（功率）：1KW
可放置卷芯長(zhǎng)度：30-800mm(可定制)
