XRF-2000L膜厚儀X射線鍍層測(cè)厚儀

XRF-2020系列系統(tǒng)

利用了當(dāng)一個(gè)樣品被x射線輻射照射時(shí)，樣品的原子被激發(fā)的現(xiàn)象。當(dāng)原子恢復(fù)到穩(wěn)定狀態(tài)時(shí)，它們會(huì)發(fā)出x射線光子。每個(gè)元素都有其不同的特征發(fā)射線。這些能量被記錄在系統(tǒng)中，并存儲(chǔ)于計(jì)算機(jī)。

通過(guò)將獲得的光譜中的元素線與系統(tǒng)數(shù)據(jù)庫(kù)中列出的相應(yīng)元素線進(jìn)行比較，來(lái)確定給定樣本的元素。

在獲得的光譜中，元素線的強(qiáng)度（幅度）與其濃度或厚度有關(guān)。增加元素的濃度或厚度結(jié)果是該元素的熒光輻射特性強(qiáng)度的增加。通過(guò)使用經(jīng)驗(yàn)或理論的物理模型，該系統(tǒng)可以提供精確的定性和定量的分析或厚度測(cè)量。

韓國(guó)MicropioneerXRF-2000/XRF-2020

功能及應(yīng)用:

快速無(wú)損測(cè)量電鍍層厚度

可測(cè)單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層

測(cè)量鍍金 鍍銀 鍍鎳 鍍錫 鍍銅 鍍鉻 鍍鋅鎳合金等！

測(cè)量范圍0.02-35um

鍍層測(cè)厚儀功能XRF-2020膜厚測(cè)量?jī)x

XRF-2020測(cè)厚儀規(guī)格

XRF-2020L型:

測(cè)量樣品長(zhǎng)寬55cm,高3cm:臺(tái)面載重3kg

XRF-2020H型:

測(cè)量樣品長(zhǎng)寬55cm,高10cm:臺(tái)載重5kg

儀器全自動(dòng)臺(tái)面,自動(dòng)雷射對(duì)焦,多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量

多個(gè)準(zhǔn)直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多個(gè)或單個(gè)準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動(dòng)切換

X射線鍍層測(cè)厚儀XRF-2020原理及功能

原產(chǎn)地：韓國(guó)

型號(hào)：XRF-2020系列

功能及應(yīng)用:

快速無(wú)損測(cè)量電鍍層厚度

可測(cè)單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層

測(cè)量鍍金 鍍銀 鍍鎳 鍍錫 鍍銅 鍍鉻 鍍鋅鎳合金等！

測(cè)量范圍0.02-35um

鍍層測(cè)厚儀功能XRF-2020膜厚測(cè)量?jī)x