吉時(shí)利先進(jìn)器件測(cè)量和材料表征技術(shù)研討會(huì)

吉時(shí)利身為新興測(cè)量需求解決方案，長(zhǎng)期致力于不斷推出新產(chǎn)品、新技術(shù)和新方法，以滿足高精度、高速度、高靈敏度和分辨率的測(cè)試測(cè)量需求。我們歡迎中國(guó)工程師朋友們通過三地的研討會(huì)了解這些產(chǎn)品和方案，為他們的工程項(xiàng)目帶來*的測(cè)試解決方案。"吉時(shí)利市場(chǎng)部潘斌說道，“從微弱信號(hào)測(cè)量到先進(jìn)的納米器件測(cè)試，從的器件設(shè)計(jì)研發(fā)到制程可靠性的測(cè)試，從先進(jìn)的存儲(chǔ)器測(cè)試到新能源器件的測(cè)試，吉時(shí)利的經(jīng)典產(chǎn)品—半導(dǎo)體器件測(cè)試系統(tǒng)為廣大業(yè)內(nèi)客戶提供了強(qiáng)大的測(cè)試手段。"

屆時(shí)，吉時(shí)利資深技術(shù)應(yīng)用工程師將在研討會(huì)現(xiàn)場(chǎng)與出席本次研討會(huì)的工程師深入交流下面主要領(lǐng)域的技術(shù)與解決方案：

先進(jìn)的材料和器件特性分析系統(tǒng)
先進(jìn)的材料和器件特性分析系統(tǒng)4200-SCS系統(tǒng)是用于器件、材料和半導(dǎo)體工藝電學(xué)特性分析的完整解決方案。這種先進(jìn)的參數(shù)分析儀具有*的測(cè)量靈敏度和精度，同時(shí)集成了嵌入式Windows操作系統(tǒng)和吉時(shí)利交互式測(cè)試環(huán)境，廣泛地應(yīng)用于先進(jìn)半導(dǎo)體材料和器件，綠色能源器件，納米電子材料和器件的特性分析。4200-SCS系統(tǒng)為科研人員提供了直觀而的功能，是一套功能強(qiáng)大的單機(jī)解決方案。

半導(dǎo)體C-V測(cè)試技術(shù)和技巧
電容-電壓（C-V）測(cè)試廣泛用于測(cè)量半導(dǎo)體參數(shù)，尤其是MOSCAP和MOSFET結(jié)構(gòu)。此外，利用C-V測(cè)量還可以對(duì)其他類型的半導(dǎo)體器件和工藝進(jìn)行特征分析，包括雙極結(jié)型晶體管（BJT）、JFET、III-V族化合物器件、光伏電池、MEMS器件、有機(jī)TFT顯示器、光電二極管、碳納米管（CNT）和多種其他半導(dǎo)體器件。吉時(shí)利在C-V測(cè)試方面有著豐富的經(jīng)驗(yàn)，可以提供zui完整的C-V測(cè)試庫(kù)。

納米器件、半導(dǎo)體參數(shù)、WLR晶圓級(jí)可靠性和存儲(chǔ)器測(cè)試
本主題將介紹納米器件測(cè)試、半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試，以及WLR晶圓級(jí)可靠性測(cè)試、存儲(chǔ)器測(cè)試。專家將現(xiàn)場(chǎng)分享如何提高測(cè)試系統(tǒng)對(duì)新材料、器件和工藝進(jìn)行特征分析的能力，輕松實(shí)現(xiàn)DC、I-V、C-V和脈沖測(cè)試測(cè)量以及微弱信號(hào)測(cè)量難點(diǎn)與應(yīng)對(duì)方案等。

吉時(shí)利2450 型觸摸屏數(shù)字源表
吉時(shí)利2450型觸摸屏數(shù)字源表是容性觸摸屏SMU，所以加電后立即就能直觀輕松地設(shè)置和使用。本次研討會(huì)上，吉時(shí)利的專家將現(xiàn)場(chǎng)介紹全新推出的SMU 2450，提供功能展示。嶄新的界面與操作，令您耳目一新！

使用電源測(cè)量直流功耗優(yōu)化產(chǎn)品耗電特性
低功耗產(chǎn)品的電池耗電特性是研發(fā)工程師關(guān)注的重要問題，吉時(shí)利PMS 2280S精密測(cè)量電源為產(chǎn)品的直流耗電測(cè)量提供了全新的解決方案。在輸出更大功率的同時(shí)，仍然保持了高品質(zhì)的電源性能，以及媲美六位半萬用表的測(cè)量精度。為工程師了解產(chǎn)品直流耗電特性提供了強(qiáng)有力的工具。