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產品介紹|布魯克納米紅外光譜nanoIR3

閱讀:1763      發(fā)布時間:2024-1-18
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Bruker 公司的Anasys nanoIR3型納米紅外光譜測量系統(tǒng),是一款基于原子力顯微鏡(AFM)的納米表征工具。其采用光熱誘導共振技術(PTIR,也稱AFM-IR),使紅外光譜的空間分辨率突破了光學衍射極限,提高至10納米級別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術曾榮獲2010年度美國R&D100大獎。

下面是nanoIR3的技術優(yōu)勢:

  1. 10nm高化學解析分辨率,揭示微區(qū)化學組分

  • 準確的微區(qū)化學表征:基于光熱誘導效應PTIR原理,與FTIR光譜吻合,沒有吸收峰的任何偏移;

  • 快光譜采集:光譜采集速度:<3s/光譜,光譜分辨率:   <1 cm-1;

  • AFM成像速度一致的快速化學成像,全自動光路優(yōu)化,避免實驗困惱;

  • 二維可視化光斑追蹤,保證佳信號;

  • 全自動軟件控制入射光束準直技術修正激光的偏移,動態(tài)能量調整,確保信號的準確性;


嵌段共聚物P2VP&PS的AFM-IR光譜和紅外成像

 

  1. 寬中紅外激光,實現(xiàn)O-H, N-H, C-H等官能團的表征

  • 寬中紅外激光:800-3600 cm-1;

  • 多種光源可選,可集成THz,同步輻射光源,可見光,近紅外,自由電子激光器等;

 


 

  • 3.支持全系列掃描探針顯微鏡模式。

  • Contact Mode(接觸模式)

  • Tapping Mode(輕敲模式)

  • Lateral Force Microscope(橫向力/摩擦力顯微鏡)

  • Phase Imaging(相位成像)

  • Magnetic Force Microscopy (磁力顯微鏡)

  • Electrostatic Force Microscopy (靜電力顯微鏡)

  • Conductive Atomic Force Microscopy (導電原子力顯微鏡)

  • Kelvin Probe Force Microscopy (開爾文探針力顯微鏡)

  • Force Curve Spectroscopy(力曲線)

  • Liquid Imaging(液態(tài)環(huán)境掃描)

  • Heater-Cooler Imaging(高低溫環(huán)境掃描)

  • SThM(掃描熱顯微鏡)

  • Nano-TA(納米熱分析)

  • LCR(洛倫茲納米力學分析)


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