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導致涂鍍層測厚儀檢定結差異因素是什么

閱讀:1851        發(fā)布時間:2020-5-18

1、薄涂層的測量準que度和厚度沒有任何關系,是一個常數(shù),厚涂層的測量準que度是一個近似恒定的分數(shù)和厚度的乘積。

2、基體磁性的變化會影響測量的數(shù)據,所以涂鍍層測厚儀校準時要采用材質和試樣基體一樣的校準;

采用待鍍產品做基體實行儀器校準,以防止不一樣的個體或局部熱處理和冷加工影響測量數(shù)據。

3、涂鍍層測厚儀在靠近試樣邊緣或內轉角處的測量數(shù)據往往是不牢靠的,這種效應或許從不持續(xù)處向前延續(xù)約20mm。
4、涂鍍層測厚儀測量曲面時,數(shù)據隨曲率半徑的減小而開始顯著。

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