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激光金屬沉積(LMD)裂紋檢測:實(shí)時(shí)溫度曲線準(zhǔn)確識(shí)別裂紋位置

閱讀:124      發(fā)布時(shí)間:2025-5-6
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本篇文章主要分享利用紅外單色高溫計(jì)IGA320/23-LO(IMP)對(duì)(工業(yè)級(jí))激光金屬沉積(LMD)過程中的裂紋進(jìn)行實(shí)時(shí)在線檢測的方法。激光金屬沉積技術(shù)是一種先進(jìn)的增材制造技術(shù),但在制造過程中容易產(chǎn)生裂紋和氣泡等缺陷,這些缺陷如果未及時(shí)檢測和修復(fù),可能造成嚴(yán)重的損失。

通過設(shè)計(jì)一個(gè)實(shí)驗(yàn)平臺(tái),利用IMP對(duì)316L奧氏體不銹鋼LMD樣品上的模擬裂紋進(jìn)行了檢測實(shí)驗(yàn)。研究發(fā)現(xiàn),通過IMP記錄的溫度變化曲線能夠準(zhǔn)確識(shí)別裂紋位置,并且裂紋深度越大,記錄的溫度峰值也越高。因此,論文提出的方法能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控LMD過程中的裂紋生成、大小和位置,從而及時(shí)發(fā)現(xiàn)并消除缺陷。

具體而言,論文的研究成果和方法特點(diǎn)包括:

裂紋檢測原理:
激光金屬沉積過程中,熔池表面高溫快速冷卻導(dǎo)致產(chǎn)生大的溫度梯度,從而產(chǎn)生熱應(yīng)力和結(jié)構(gòu)應(yīng)力,這些應(yīng)力疊加導(dǎo)致裂紋的產(chǎn)生。IMP通過監(jiān)測沉積表面的溫度變化,可實(shí)時(shí)檢測出這些裂紋。


實(shí)驗(yàn)方法與裝置:

構(gòu)建了實(shí)時(shí)在線的IMP檢測裝置,通過步進(jìn)電機(jī)控制掃描,采集樣品表面不同位置的溫度數(shù)據(jù)。溫度的明顯變化可以表明裂紋的存在。

一、IGAR 12-LO高精度紅外雙色高溫計(jì)

測溫場景:

  • 應(yīng)用場景:
    在早期的激光金屬沉積(LMD)缺陷檢測研究中,研究者利用IGAR 12-LO雙色高溫計(jì)掃描樣品表面,以探測可能存在的缺陷(如裂紋)導(dǎo)致的溫度變化。

  • 具體測量情況:
    當(dāng)試件表面溫度處于385至450 °C時(shí),若表面存在裂紋等缺陷,用該雙色高溫計(jì)掃描時(shí)能夠捕獲到由缺陷引起的溫度變化。

  • 存在的問題:

    • 此類雙色高溫計(jì)價(jià)格昂貴,增加了設(shè)備的使用成本,尤其在工業(yè)生產(chǎn)中不利于大規(guī)模普及應(yīng)用。

    • 測溫范圍為350–1300 °C,如果LMD制造的樣品較大,其表面溫度常常低于350 °C,此時(shí)IGAR 12-LO雙色高溫計(jì)無法實(shí)施測溫。

    1. 溫度測量范圍局限:

    2. 成本問題:


二、紅外單色高溫計(jì) (Infrared Monochrome Pyrometer, IMP)

測溫場景:

  • 應(yīng)用場景:


    本論文重點(diǎn)研究了一種新型的裂紋在線檢測方法,采用IMP實(shí)時(shí)監(jiān)測激光金屬沉積過程中的溫度變化,以準(zhǔn)確判斷裂紋的生成及其具體位置與尺寸。


  • 實(shí)驗(yàn)平臺(tái)與實(shí)際測量過程:

    1. 將紅外單色高溫計(jì)(型號(hào)為IGA320/23-LO IMPAC® Pyrometer)安裝于LMD噴嘴一側(cè),通過步進(jìn)電機(jī)控制光學(xué)探頭掃描試件表面。

    2. 試驗(yàn)中,在溫控加熱爐基板上放置激光沉積制備的316L奧氏體不銹鋼試件。采用底部加熱電阻絲,使試件底部維持在約175至230 °C,輔助加熱保證一定基底溫度。

    3. 實(shí)驗(yàn)利用光學(xué)探頭掃描試件表面,實(shí)時(shí)采集溫度數(shù)據(jù)。當(dāng)掃描到試件表面模擬裂紋缺陷位置時(shí),會(huì)出現(xiàn)明顯的溫度峰值變化。

  • 具體測量情況與效果:

    • 在掃描過程中,無缺陷表面溫度變化較為平穩(wěn),溫差不超過5 °C。

    • 當(dāng)表面存在裂紋時(shí),探測位置的溫差可高達(dá)約30 °C,出現(xiàn)明顯溫度峰值,利用這一特征能夠準(zhǔn)確定位裂紋。

    • 實(shí)驗(yàn)?zāi)M了4條寬度與深度各異的裂紋,證實(shí)裂紋深度越大,記錄的溫度峰值越高。

    • 該測量系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)裂紋位置、尺寸和深度的實(shí)時(shí)監(jiān)測,有效地避免了以往技術(shù)中的局限性,如高成本、環(huán)境危害和外界干擾等問題。


兩款高溫計(jì)測溫場景對(duì)比總結(jié):

對(duì)比維度

IGAR 12-LO雙色高溫計(jì)

IGA320/23-LO紅外單色高溫計(jì) (IMP)




測溫對(duì)象

LMD試件表面裂紋(早期研究)

LMD試件表面裂紋(本研究)

溫度范圍

385–450 °C效果較好,但低于350 °C無法測量

150–1200 °C,適用于更寬溫度范圍,更實(shí)用

應(yīng)用成本

較高

較低,適合工業(yè)規(guī)模應(yīng)用

裂紋檢測精確性

對(duì)中高溫裂紋能識(shí)別,但低溫范圍不能識(shí)別

對(duì)各溫度范圍裂紋均能精準(zhǔn)識(shí)別,且可實(shí)時(shí)在線監(jiān)測裂紋尺寸及位置

實(shí)際工業(yè)場景適用性

有局限性(成本高、適用范圍窄)

適用性廣、成本低,能實(shí)時(shí)監(jiān)測,有利于廣泛工業(yè)應(yīng)用




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