雙折射顯微鏡 EXICOR-MICROIMAGER 參考價：面議
雙折射顯微鏡 EXICOR-MICROIMAGER為學術界和工業(yè)界的研究人員提供了評估雙折射的能力。無論是生物材料還是工業(yè)材料。
雙折射（應力）測量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS 參考價：面議
雙折射（應力）測量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS，設計減去了光學系統(tǒng)中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換。 氦氖激光束被偏振，然后被PEM調(diào)制。
雙折射（應力）測量系統(tǒng) EXICOR-PV-Si 參考價：面議
雙折射（應力）測量系統(tǒng) EXICOR-PV-Si還可測量藍寶石、碳化硅、硒鋅、鎘等材料。PV-Si鑄錠模型堅固、通用，可容納和測量直徑達8英寸的500毫米粗錠。
各向異性測量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計 參考價：面議
各向異性測量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計是一個重大的突破，光學各向異性測量技術更快、更準確、收集更多的數(shù)據(jù)。
Strokes 偏振計 參考價：面議
Strokes 偏振計在光學元件表征、光學系統(tǒng)光束輸出特性、天文學、光纖制造、光源和激光質(zhì)量控制等方面有著廣泛的應用。
圓二色性測量系統(tǒng) 參考價：面議
圓二色性測量系統(tǒng)使用垂直光路直接從標準孔板測量圓二色性。這樣就不需要將溶液轉(zhuǎn)移到試管中進行篩選，也不需要在分析過程中清洗試管
雙折射（應力）測量系統(tǒng) EXICOR-GEN 參考價：面議
雙折射（應力）測量系統(tǒng) EXICOR-GEN，液晶基板應力分布測量，大型液晶基板應力分布測量，應力測量。Hinds，ExicorGEN5， ExicorGEN6...
雙折射（應力）測量系統(tǒng)-EXICOR OIA 參考價：面議
雙折射（應力）測量系統(tǒng)-EXICOR OIA是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要雙折射測量系統(tǒng)。
應力雙折射 參考價：面議
Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要應力雙折射測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds l...
應力雙折射測量系統(tǒng) 參考價：面議
Hinds 儀器的應力雙折射測量系統(tǒng)Exico-150AT是Exicor®雙折射測量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺。 該系統(tǒng)具有足夠的多樣性，在生產(chǎn)車間和研發(fā)...
應力雙折射檢測 參考價：面議
在硅太陽能電池板的生產(chǎn)過程中，硅晶體中的應力在制作過程中往往沒有被檢測到，我們描述了一種測量硅錠的應力雙折射檢測，它可以是方形的，也可以是生長的，然后被鋸成硅片...
光學玻璃應力測量 參考價：面議
光學玻璃應力測量占地小-大限度地減少設備所需的工廠空間；平臺設計-使可測量面積盡可能大；強大的自動化-質(zhì)量階段和硬件正常運行時間。
美國Hinds Instruments 參考價：面議
美國Hinds Instruments 的Exicor®雙折射測量技術于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術，具生產(chǎn)價值的測量雙折射的能力...
殘余應力檢測 參考價：面議
150AT 應力雙折射系統(tǒng)是Hinds應力雙折射測量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品，用于殘余應力檢測。該應力雙折射測量系統(tǒng)既可作為實驗室科研探索測量光學組件應力分布測量，也可...
殘余應力測量 參考價：面議
該系統(tǒng)利用PEM調(diào)制光束的偏振狀態(tài)、先進探測和解調(diào)電子來測量光學如何改變偏振狀態(tài)。這就導致了一個偏振狀態(tài)相對于另一個偏振狀態(tài)的光延遲測量結(jié)果是90°。...
Hinds 參考價：面議
美國Hidns Instruemtns -LCD材料的超低階雙折射測量在與眾多的光學材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系...
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