本測(cè)試儀能測(cè)試或判斷封裝的可控硅和雙向可控硅的斷態(tài)漏電流、反向漏電流、門，觸發(fā)電流、門，觸發(fā)電壓、陰，門，漏電流、通態(tài)壓降、通態(tài)平均電流、維持電流等參數(shù)。
本測(cè)試儀具有人工測(cè)試和接分選機(jī)自動(dòng)測(cè)試等測(cè)試方式。人工測(cè)試時(shí)，與測(cè)試盒相連，在測(cè)試狀態(tài)下，插入器件后，就開始測(cè)試，由人工根據(jù)顯示的分檔數(shù)進(jìn)行分選；自動(dòng)測(cè)試時(shí)，與分選機(jī)相連，由分選機(jī)輸出的“開始測(cè)試信號(hào)"控制，對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試，并把分檔結(jié)果送至分選機(jī)。
本測(cè)試儀內(nèi)部預(yù)置可修改的方案，開機(jī)即可進(jìn)行測(cè)試。用戶也能夠?yàn)g覽并打印測(cè)試結(jié)果。本測(cè)試儀適合于生產(chǎn)廠家對(duì)封裝的可控硅和雙向可控硅進(jìn)行批量測(cè)試，也適合于應(yīng)用廠家的篩選測(cè)試。
指    標(biāo)
測(cè)試分辨率
漏 電 流：0.1uA
觸發(fā)電流：0.1uA
觸發(fā)電壓：0.01V
通態(tài)平均電流：1mA
維持電流： 0.1mA
%項(xiàng)測(cè)試時(shí)間
測(cè)試斷態(tài)漏電流：≤20mS
測(cè)試反向漏電流：≤30mS
測(cè)試觸發(fā)電流：≤30mS
測(cè)試觸發(fā)電壓：≤20mS
測(cè)試陰，門，漏電流：≤30mS
測(cè)試通態(tài)壓降：≤30mS
測(cè)試通態(tài)平均電流：≤50mS
測(cè)試維持電流：≤50mS