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紅外線氣體分析儀的工作原理分析
閱讀：2286 發(fā)布時(shí)間：2019-12-9
紅外線氣體分析儀基于氣體對(duì)紅外光吸收的郎伯--比爾吸收定律，采用上新的NDIR技術(shù)， 如電調(diào)制紅外光源、高靈敏度濾光傳感一體化紅外傳感器、高精度前置放大 電路、可拆卸式鍍膜氣室，局部恒溫控制技術(shù)等，實(shí)現(xiàn)不同濃度、不同氣體 （SO2、NOX、CO2、CO、CH4等）的高精度連續(xù)檢測(cè)。
紅外線氣體分析儀，是利用紅外線進(jìn)行氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同．剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同，動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣，就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。
紅外線氣體分析儀，是利用紅外線進(jìn)行氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同．剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同，動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣，就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。
1．比爾定律
紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測(cè)氣體為一個(gè)無(wú)限薄的平面．強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為：
式中：I--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度；
k--待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)；
C--待分析組分的氣體濃度；
L--氣室長(zhǎng)度(赦測(cè)氣體層的厚度)
對(duì)于一臺(tái)制造好了的紅外線氣體分析儀，其測(cè)量組分已定，即待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)k一定；紅外光源已定，即紅外線通過(guò)介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度