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KLT系列激光粒度儀

技術特點

●*的半導體制冷恒溫激光器做光源，波長短、體積小、工作穩(wěn)定、壽命長。

●*設計大直徑光靶，保證測量范圍大，全測量范圍內(nèi)不需要更換鏡頭或移動樣品池。

●*反演算法，集多年研究之成果，米氏理論的*應用，保證顆粒測量的準確。

●USB接口，儀器與計算機分離，可配任意具有USB接口之計算機；臺式、筆記本、移動PC均可。

●測量時循環(huán)樣品池或固定樣品池可選，兩者可根據(jù)需要換用。

●循環(huán)系統(tǒng)與儀器一體化，樣品池內(nèi)置超聲分散裝置，可有效分散團聚顆粒。

●樣品測量可*自動化，除添加樣品外，同時也提供手動測量菜單。

●軟件個性化，提供測量向?qū)У缺姸喙δ?，方便用戶操作?/p>

●測量結(jié)果輸出數(shù)據(jù)豐富，保存在數(shù)據(jù)庫中，能用任意參數(shù)，如操作者姓名，樣品名，日期，時間等進行調(diào)用分析，與其他軟件實現(xiàn)數(shù)據(jù)共享。

●儀器造型美觀，體檢小重量輕。

●測量精度高，重復性好，測量時間短。

●軟件提供眾多物質(zhì)折射率供用戶選擇，滿足用戶查找被測顆粒折射率要求。

●考慮到測試結(jié)果的保密要求，只有*操作者才能進入相應數(shù)據(jù)庫讀取數(shù)據(jù)和處理。

KLT系列激光粒度儀

技術參數(shù)

型號 KLT-11 KLT-21 KLT-31

測量原理 Mie散射理論

測量范圍 0.1-200um 0.1-400um 0.1-600um

測量分析時間 正常條件下小于1分鐘（從開始測量到顯示分析結(jié)果）。

重現(xiàn)性 ﹤1%（標樣D50偏差）

測量精度 ﹤1%（標樣D50偏差）（國家標準顆粒檢驗）

數(shù)據(jù)輸出 體積、數(shù)量微分分布和累積分布表和圖表；多種統(tǒng)計平均直徑；

操作者姓名、單位、樣品名； 選用折射率，測量時間等相關信息。

光源 半導體制冷恒溫激光光源，波長635nm

檢測器 定制硅光電二極管

通訊接口 USB接口

樣品池 固定樣品池和循環(huán)樣品池

電源 AC 180V-240V，50Hz，20W

外形尺寸 650*350*420

重量 30kg