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YK-AEU210是引進日本新技術生產的集精確、穩(wěn)定為主要特點的電子分析天平，可以*實驗室質量分析要求。
產品簡介
詳細介紹
電子分析天平（上皿式210g/0.1mg)YK-AEU210
YK-AEU210是引進日本新技術生產的集精確、穩(wěn)定為主要特點的電子分析天平，可以*實驗室質量分析要求。該系列天平采用CPPM工作方式，確保稱量過程中良好的穩(wěn)定性，并具有DATA I/O和RS-232C接口，可與打印機、計算機等外圍設備連接。全自動內校電子分析天平帶有內藏砝碼，探測溫度變化觸發(fā)校準，可自動保持在任何環(huán)境下天平的靈敏度。
電子分析天平（上皿式210g/0.1mg)YK-AEU210主要技術參數(shù)
zui大稱量(g)210g
分度值(g) 0.1mg
稱盤尺寸(mm) Φ80mm
電子分析天平（上皿式210g/0.1mg)YK-AEU210是引進日本新技術生產的集精確、穩(wěn)定為主要特點的電子分析天平，可以*實驗室質量分析要求。該系列天平采用CPPM工作方式，確保稱量過程中良好的穩(wěn)定性，并具有DATA I/O和RS-232C接口，可與打印機、計算機等外圍設備連接。全自動內校電子分析天平帶有內藏砝碼，探測溫度變化觸發(fā)校準，可自動保持在任何環(huán)境下天平的靈敏度。
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