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國產透過率測試儀
國產透過率測試儀，積分球采光，380-1100nm
我們提供的XP-T-2000系列國產透過率測試儀是全波長透過率測試儀，使用透射積分球采光，能夠快速測量絕對透過率，并且能實時快速準確地測量各類平面、非平面等材料的絕對透過率，還可用于實時顯示單、多點波長絕對透過率和數據及制定波段平均透過率數據。適用于手機蓋板IR孔、棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、太陽膜、濾光片等平面、光學元件及組合鏡頭等的檢測。
系統(tǒng)特點：
我們提供的國產透過率測試儀的適用場景十分廣泛，在各種場景都可以使用，并且測量迅速，是可以在毫秒級時間內測量全譜信息的全波長透過率測試儀，并且使用的是積分球采光，可以測量待檢測樣品的絕對透過率，還可設置檢測區(qū)間，十分方便。
- 快速全譜測量，可在毫秒級時間內測量全譜信息；
- 可以適應不同實驗環(huán)境，手套箱、實驗室、辦公室、車間均可以使用；
- 采用積分球采光，消除由樣品折射率、散射等因素引起的誤差；
- 軟件可設置透過率質檢區(qū)間，自動判斷NGOK等等。
我們作為集研發(fā)、生產、服務于一體的高科技公司，致力于為全球客戶提供的技術產品和服務，擁有多年光譜快速檢測經驗，為物理光電、功能材料、化學化工、環(huán)境科學、食品科學、生命科學、農學等不同領域提供數以百計的測量方案，尤其在QLED、OLED、PLED、MircoLED、LED、量子點發(fā)光材料、熒光粉、光色電測量領域獲得了豐富的案例，以準為本，客戶思維，科技至上，至誠至堅，合作共贏，建設高效、快速為一體測量解決方案。
國產透過率測試儀
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