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NightN光學(xué)表面形貌測試儀HION

產(chǎn)品介紹：

光學(xué)測試儀HION用于光學(xué)表面測試。該技術(shù)基于 Shack-Hartmann 方法。激光束從被測光學(xué)表面反射并進入 Shack-Hartmann 波前傳感器進行進一步處理。

光學(xué)測試儀HION用于光學(xué)表面測試。該技術(shù)基于 Shack-Hartmann 方法。激光束從被測光學(xué)表面反射并進入 Shack-Hartmann 波前傳感器進行進一步處理。

光學(xué)測試儀HION用于光學(xué)表面測試。該技術(shù)基于 Shack-Hartmann 方法。激光束從被測光學(xué)表面反射并進入 Shack-Hartmann 波前傳感器進行進一步處理。

產(chǎn)品規(guī)格：

1. 光學(xué)孔徑：10 至 50 mm（可選300 mm）

2. 測量時間：10 ms

3. 測量精度：32 nm (P-V)

4. 測量偏差：5 µm（P-V）

5. 光源：二極管激光器

6. 光源波長：0.65 µm

7. CCD/CMOS相機

結(jié)果輸出：

1. 峰-谷誤差P-V，均方根（RMS）

2. 將像差展開為Seidel 和 Zernike 多項式（傾斜、散焦、像散等）

3. 2D 和 3D 波前，干涉條紋