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KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測試儀
KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測試儀，方塊電阻測試儀可對金屬層厚度、薄膜電阻、薄膜電阻率、薄膜電導和薄膜電導率進行測繪。R54是方塊電阻測量...
型號：所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/5/9 17:05:47 對比

R50方塊電阻測試儀 R50系列四探針電阻測試儀電阻測試儀方塊電阻測試四探針電阻測試
KLA Tencor® P-7探針式輪廓儀
KLA Tencor® P-7探針式輪廓儀為生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)節(jié)提供了從幾納米到一毫米的臺階高度測量功能。該系統(tǒng)支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行二維...
型號：所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/5/9 17:05:03 對比

kla 探針式輪廓儀 kla p-7 p-7 臺階儀
KLA iMicro納米壓痕儀
KLA iMicro納米壓痕儀可輕松測量硬質(zhì)涂層、薄膜和小尺寸材料等。其準確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度測試、劃痕和納米級萬能試驗等多種納米力學測試...
型號：所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/5/9 17:04:40 對比

KLA iMicro納米壓痕儀納米壓痕儀納米劃痕儀納米劃痕測試納米壓痕測量
KLA Candela® 8720表面缺陷檢測系統(tǒng)
KLA Candela® 8720表面缺陷檢測系統(tǒng)先進的集成式表面和光致發(fā)光(PL)缺陷檢測系統(tǒng)可以捕獲各種關鍵襯底和外延缺陷。采用統(tǒng)計制程控制(SP...
型號：所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/5/9 17:04:22 對比

KLA Candela® 8720表面缺陷檢測系統(tǒng)表面缺陷檢測系統(tǒng)晶圓表面缺陷檢測晶圓光學檢測晶圓檢測
KLA Candela® 8520表面缺陷檢測系統(tǒng)
KLA Candela® 8520表面缺陷檢測系統(tǒng)第二代集成式光致發(fā)光和表面檢測系統(tǒng)，設計用于對碳化硅和氮化鎵襯底上的外延缺陷進行高級表征。采用統(tǒng)計制...
型號：所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/5/9 17:04:12 對比

KLACandela® 8520表面缺陷檢測系統(tǒng)表面缺陷檢測系統(tǒng)晶圓表面檢測晶圓缺陷光學檢測晶圓光學檢測
KLA Candela® 8420表面缺陷檢測系統(tǒng)
KLA Candela® 8420表面缺陷檢測系統(tǒng)它使用多通道檢測和基于規(guī)則的缺陷分類，對不透明、半透明和透明晶圓(如砷化鎵、磷化銦、鉭酸鋰、鈮酸鋰、...
型號：所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/5/9 17:03:58 對比

KLA Candela® 8420表面缺陷檢測系統(tǒng)表面缺陷檢測系統(tǒng)晶圓缺陷檢測半導體缺陷檢測晶圓光學檢測
薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F50薄膜厚度測量儀采用自動化R-Theta平臺，支持標準和定制化樣品夾盤，最大樣品直徑達450毫米，能高效測繪薄膜厚度。該設備適...
型號： KLA Filme... 所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/5/9 17:03:36 對比

KLA Filmetrics F50薄膜厚度測量儀 Filmetrics F50薄膜厚度測量儀 Filmetrics F50 薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀
KLA Alpha-Step®D-500探針式輪廓儀
KLA Alpha-Step®D-500探針式輪廓儀能夠測量幾納米到1200微米高的2D臺階。D-500也支持在研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)節(jié)中對粗糙度、彎曲度和應力...
型號：所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/3/17 10:32:02 對比

Alpha-Step®D-500 KLA-Tencor 探針式輪廓儀臺階儀接觸式輪廓儀
KLA Tencor® P-17探針式輪廓儀
KLA Tencor® P-17探針式輪廓儀為生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)節(jié)提供從幾納米到一毫米的臺階高度測量功能。該系統(tǒng)支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行二維...
型號：所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/3/17 10:30:38 對比

KLA P-17 探針式輪廓儀臺階儀粗糙度測量
KLA Alpha-Step® D-600探針式輪廓儀
半導體薄膜生長表面檢測KLA Alpha-Step® D-600探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到 1200微米的2D和3D臺階高度。D-600 還支持2...
型號：所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/3/17 10:27:03 對比

科磊探針式輪廓儀 Alpha-Step® D-600 kla 半導體表面測量
KLA Filmetrics F40薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F40薄膜厚度測量儀通過將顯微鏡轉(zhuǎn)變?yōu)楸∧y量工具，實現(xiàn)小至1微米光斑的厚度和折射率測量。該設備配備集成彩色攝像機，可在1秒內(nèi)完成...
型號：所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/3/10 7:59:43 對比

KLA Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀 Filmetrics F40薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀 Filmetrics F40 白光干涉測厚儀
KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀通過實時監(jiān)控沉積過程，提供高精度、快速且非侵入式的測量解決方案，適用于多種半導體和電介質(zhì)材料。其主要特點包括提...
型號：所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/3/10 7:53:14 對比

KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀 Filmetrics F30薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量系統(tǒng)
KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀系列，涵蓋近紅外光波長范圍980 nm、1310 nm及1550 nm，能夠測量從15納米至3毫米的薄膜厚...
型號：所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/3/10 7:42:31 對比

KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀 F3-sX薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀 Filmetrics F3-sX
KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測量系統(tǒng)
KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測量系統(tǒng)專為微小視野及樣品設計，支持快速、簡易的厚度測量，適用于聚對二甲苯和真空鍍膜層等。其具備自動校正功能，可...
型號：所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/3/10 7:34:59 對比

KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測量系統(tǒng)快速厚度測量系統(tǒng)薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀 F3-CS快速厚度測量系統(tǒng)
KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀通過同時測量反射和透射光譜，實現(xiàn)真空鍍膜的快速、精確分析。該設備價格合理，具備分析、FWHM確定及顏色分...
型號：所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/3/10 7:28:14 對比

Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀 Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量
KLA Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀是一款專為測量單層和多層硬涂層設計的儀器，基于F20平臺，采用光譜反射分析技術，提供快速準確的測量結(jié)果。...
型號：所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/3/10 7:21:12 對比

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度測量儀汽車薄膜厚度測量白光干涉測厚儀 F10-HC薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統(tǒng);經(jīng)濟實惠的膜厚儀系列在幾秒鐘內(nèi)就能完成高精度的薄膜厚度測量。這些易于使用的儀器與智能軟件和一系列附件和...
型號：所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/3/10 7:12:59 對比

Filmetrics F20 Filmetrics F20 白光干涉測厚儀薄膜厚度測量儀臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀便攜式反射儀帶有內(nèi)部光纖，利用具有長壽命、低功率光源可以測量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價格在幾秒...
型號：所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/3/10 7:02:14 對比

Filmetrics F10-ARc KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀薄膜厚度測量儀 Filmetrics F10-ARc白光干涉測厚儀
KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀便攜式反射儀帶有內(nèi)部光纖，利用具有長壽命、低功率光源可以測量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價格在幾秒鐘...
型號：所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/3/10 2:57:44 對比

KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀 KLA Filmetrics 白光干涉測厚儀薄膜厚度測量儀光學薄膜測量設備
KLA NanoFlip納米壓痕儀
KLA NanoFlip納米壓痕儀可在真空和氣氛條件下，準確、精密地進行硬度、模量、屈服強度、剛度和其它納米力學性能的測試。無論在掃描電子顯微鏡(SEM)或是聚...
型號：所在地：香港特別行政區(qū) 參考價： ￥50000 更新時間：2025/3/10 2:30:38 對比

KLA NanoFlip納米壓痕儀納米壓痕儀納米劃痕儀 NanoFlip納米壓痕儀納米檢測

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