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JK-600S高溫電學探針熱臺
  • JK-600S高溫電學探針熱臺

貨物所在地:北京北京市

更新時間:2025-01-13 11:40:09

瀏覽次數(shù):32

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探針熱臺JK-600S是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設(shè)計的產(chǎn)品,可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式,實現(xiàn)RT~600℃范圍內(nèi)精準控制,與其他電學儀表(如電橋、源表、萬用表等)搭配集成,進行變溫原位測試。產(chǎn)品需要與溫度控制器配套使用,配套的上位機溫控軟件方便進行溫度設(shè)置及采集,提供的Labview Vis/C# SDK方便客戶進行定制化編程。


JK-600S高溫電學探針熱臺

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探針熱臺JK-600S是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設(shè)計的產(chǎn)品,可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式,實現(xiàn)RT~600范圍內(nèi)精準控制,與其他電學儀表(如電橋、源表、萬用表等)搭配集成,進行變溫原位測試。產(chǎn)品需要與溫度控制器配套使用,配套的上位機溫控軟件方便進行溫度設(shè)置及采集,提供的Labview Vis/C# SDK方便客戶進行定制化編程。

1、 可以搭配阻抗分析儀,高阻計,電化學工作站,數(shù)字源表進行功能材料電學的相關(guān)測試

2、 軟件開發(fā)可以進行高溫介電溫譜測試、電阻,電阻率測試,熱電,熱釋電,TSDC等測量功能。

產(chǎn)品特點:

溫度范圍:RT~600℃

溫度穩(wěn)定性:±0.1℃

升降溫速度:0~30℃/min

氣密腔室設(shè)計,可升級真空

詳細參數(shù)一覽表:

探針熱臺

JK-600S

溫控模塊

冷熱方式

電阻加熱

溫控范圍

RT~600℃ *

溫度穩(wěn)定性

±0.1℃ *

溫度分辨率

0.1℃

升降溫速率

0~30℃/min(可定點 / 程序段控溫),最大150℃/min

溫控方式

PID

溫度傳感器

PT100

光學特性

光路

透射光路 *可選反射光路

視窗材質(zhì)

石英玻璃(可手動拆卸更換) *

視窗尺寸

Φ25mm *

物鏡工作距離

7mm *

透光孔

默認透光孔 *可選無透光孔

電學特性

   探針

2個磁吸式探針/4個磁吸式探針 手動定位 *

探針接口

BNC接口 *可選SMA接口

樣品臺面電位

默認電懸空 *可選電接地

結(jié)構(gòu)特性

樣品臺尺寸

20×20mm *

樣品臺材質(zhì)

不銹鋼 *

外形尺寸

116×110×25mm *

樣品腔高度

6mm *

腔室

氣密 *可升級真空

外殼冷卻

循環(huán)水

基本配置

探針熱臺x1、溫度控制器x1、循環(huán)水系統(tǒng)x1、溫控軟件x1

選配

電腦主機/安裝支架/真空系統(tǒng)/定制溫控軟件

備注

以上均為默認參數(shù)    * 為可定制項

可進行多種電學功能測試

1、 高溫介電溫譜測試

2、 絕緣電阻測試

3、 四探針電阻率測試

4、 熱電測試儀,TSDC熱刺激電流測試,熱釋電測試

第一、介電溫譜測試圖

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第二、高溫介電測試

模式選擇:根據(jù)等效電路可選擇并聯(lián)模式和串聯(lián)模式;測量方式:軟件可進行介電溫譜與介電頻譜;

測量參數(shù): s介電常數(shù)、 (E'、t"介電常數(shù)實部與虛部)、C電容、(C'、C"電容實部與虛部、D損耗、R電阻、(R'、R""電阻實部與虛部).Z、(Z'、Z"阻抗實部與虛部)、Y導納、Y.Y"(導納實部與虛溫度設(shè)置:可設(shè)置升溫速度、降溫速度、最大溫度、測量等待時間等;

測量頻率:軟件可設(shè)置測試的頻率;

數(shù)據(jù)處理:測量數(shù)據(jù)生成Excel及pdf兩種文件格式;圖像處理:測量曲線可保存。

高溫介電測試.jpg

                               高溫介電測試

第三、測量曲線(電阻、熱釋電、TSDC測量)

電阻測量模式:

1、電阻測量模式:

2、連續(xù)測量模式:升降溫連續(xù)采集。2、保持測量:指達到溫度后進行測量采集TSDC測量:

3、通過液氮進行低溫試驗。

熱釋電參數(shù)測試.jpg

 

熱釋電參數(shù)測試

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                         TSDC熱刺激電流測試

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電阻測試



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