Guided Wave NIR-O 分析儀: 過程與實(shí)驗(yàn)
NIR- o分析儀使用近紅外輻射(NIR)收集液體、氣體和聚合物薄膜的光譜數(shù)據(jù)，利用分析軟件解析這些光譜數(shù)據(jù)，以確定材料的成分或物理特性，所有這些都是在實(shí)時(shí)的并具有挑戰(zhàn)性的工藝環(huán)境中進(jìn)行。兩個(gè)全光譜近紅外分析儀能夠以在線模式檢測(cè)數(shù)據(jù)，或離線以實(shí)驗(yàn)室臺(tái)式模式進(jìn)行分析。一個(gè)全面的系統(tǒng)包括NIR- o分析儀，一個(gè)或多個(gè)NIR探針，光纖電纜和掃描數(shù)據(jù)分析軟件。Guided Wave的NIR-O提供了優(yōu)秀的信噪比，波長(zhǎng)穩(wěn)定性，NIST可跟蹤的波長(zhǎng)校準(zhǔn)，雙光束光學(xué)，和內(nèi)置診斷。
LAB NIR-O 完備實(shí)驗(yàn)室分析系統(tǒng)
LAB NIR-O 的工程設(shè)計(jì)使得在實(shí)驗(yàn)室開發(fā)的校準(zhǔn)可以直接移植到 NIR-O 的分析應(yīng)用場(chǎng)景以實(shí)現(xiàn)高精度和可靠性的無縫和精確的數(shù)據(jù)傳輸。LAB NIR-O 是一種6通道近紅外 (1000-2100nm) 分析儀，包括穩(wěn)定監(jiān)測(cè)系統(tǒng)(SMS)過濾器和用于例行硬件和光學(xué)性能驗(yàn)證的腳本。
支持質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)分析
質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室通常負(fù)責(zé)通過檢查抓取的樣品來驗(yàn)證過程分析儀的準(zhǔn)確性。LAB NIR-O 的內(nèi)置軟件可以讓工程師和技術(shù)人員將參考值與樣品光譜相結(jié)合。而這些數(shù)據(jù)可以快速加載到第三方化學(xué)計(jì)量工具，如Solo
(Eigenvector)、Pirouette
或Unscrambler
，以進(jìn)行額外的分析和模型維護(hù)。如果質(zhì)控實(shí)驗(yàn)室使用的光譜儀設(shè)計(jì)與工藝中使用的相同，那么化學(xué)計(jì)量模型開發(fā)或模型驗(yàn)證通常具有優(yōu)勢(shì)。此外，在質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室中使用與現(xiàn)場(chǎng)相同的探頭可以共享備件。
試驗(yàn)工廠應(yīng)用
中試工廠經(jīng)常發(fā)現(xiàn)自己要在傳統(tǒng)的研究級(jí)實(shí)驗(yàn)室分析儀和為現(xiàn)場(chǎng)條件開發(fā)的過程分析儀之間做出選擇。LAB NIR-O 是基于我們的 NIR-O 過程分析儀研制的，只是移除了諸如空調(diào)等實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中不需要的組件。這造就一個(gè)流線型的臺(tái)式分析儀，也可以用于試點(diǎn)工廠的操作。
會(huì)員.png)
3