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主營產(chǎn)品： 局部放電測(cè)試儀,超聲波局部放電測(cè)試儀,開關(guān)柜局部放電測(cè)試儀,局部放電在線監(jiān)測(cè),電力電纜故障測(cè)距儀,高壓電纜故障測(cè)試儀,高壓電纜故障檢測(cè)儀,通信電纜故障綜合測(cè)試儀 |
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2017-8-30 閱讀(2110)
根據(jù)理論分析得知，TEV有可能是由于局部放電引起的電磁波從開關(guān)柜不連續(xù)處泄露而形成。為了驗(yàn)證其理論的正確性，首先對(duì)無縫情況時(shí)的TEV傳播過程進(jìn)行了仿真，其結(jié)果如圖所示。
上圖中所示為無縫情況下TE號(hào)在開關(guān)柜內(nèi)的傳播過程，TE號(hào)以放電源為中心向四周輻射，明顯穿透了開關(guān)柜金屬外殼，不過理論上金屬對(duì)電磁信號(hào)有很強(qiáng)的屏蔽作用，為了得知電磁信號(hào)是否被屏蔽，通過檢測(cè)探針在開關(guān)柜模型金屬殼外表面測(cè)量到的信號(hào)強(qiáng)度如下圖所示。
無縫時(shí)的TE號(hào)仿真結(jié)果zui大值為6e-9Vfmm，接近于0，由此可見，開關(guān)柜殼體對(duì)TE號(hào)產(chǎn)生的金屬屏蔽作用明顯，TE號(hào)以穿透金屬為傳播路徑的可能性很小。
