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高低溫探針臺(tái) TC  WAFER  晶圓測(cè)溫系統(tǒng)

探針臺(tái)是一種精密的電子測(cè)試設(shè)備，主要用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。       探針臺(tái)的主要功能是進(jìn)行精密電氣測(cè)量，以確保產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性，同時(shí)也能縮減研發(fā)時(shí)間和降低制造工藝的成本。它主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測(cè)試環(huán)節(jié)，負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位，確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩(wěn)定的信號(hào)，使晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個(gè)測(cè)試，實(shí)現(xiàn)更加精確的數(shù)據(jù)測(cè)試測(cè)量。

探針臺(tái)通常包括載物臺(tái)、光學(xué)元件、卡盤、探針卡、探針夾具及電纜組件等部分，   此外，探針臺(tái)也用于網(wǎng)絡(luò)測(cè)量的工具，可以測(cè)量網(wǎng)絡(luò)的延遲時(shí)間、吞吐量和丟包率等指標(biāo)，從而評(píng)估網(wǎng)絡(luò)的性能和可靠性。

TC-WAFER晶圓測(cè)溫系統(tǒng)應(yīng)用于高低溫晶圓探針臺(tái)，測(cè)量精度可達(dá)mk級(jí)別，可以多區(qū)測(cè)量晶圓特定位置的溫度真實(shí)值，也可以精準(zhǔn)描繪晶圓整體的溫度分布情況，還可以監(jiān)控半導(dǎo)體設(shè)備控溫過程中晶圓發(fā)生的溫度變化，了解升溫、降溫以及恒溫過程中設(shè)備的有效性。

智測(cè)電子還提供整個(gè)實(shí)驗(yàn)室過程的有線溫度計(jì)量，保證溫度傳感器的長(zhǎng)期測(cè)量精度。

合肥智測(cè)電子致力于高精度溫測(cè)、溫控設(shè)備的生產(chǎn)和研發(fā)定制，為半導(dǎo)體設(shè)備提供可靠的國(guó)產(chǎn)解決方案