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       EMI測試（Electromagnetic Interference Testing，電磁干擾測試）是一種用于評估電子設(shè)備在其工作過程中產(chǎn)生的電磁干擾（EMI）水平的測試方法。EMI測試的目的是確保電子設(shè)備在正常工作時(shí)不會產(chǎn)生過多的電磁干擾，以免影響其他設(shè)備的正常運(yùn)行。

       示波器配近場探頭主要是完成EMI測試中的輻射發(fā)射測試，即測量設(shè)備在工作時(shí)通過空氣傳播的電磁干擾。除了輻射發(fā)射測試，EMI測試還包括傳導(dǎo)發(fā)射測試，它需要使用EMI測試接收機(jī)/實(shí)時(shí)頻譜儀+人工電源網(wǎng)絡(luò)+隔離變壓器，測量設(shè)備在工作時(shí)通過電源線傳播的電磁干擾。這類測試通常在屏蔽室內(nèi)進(jìn)行，以減少環(huán)境噪聲對測試結(jié)果的影響。

1、確認(rèn)示波器是否有對應(yīng)的頻譜分析功能或者FFT功能，及對應(yīng)的頻譜分析帶寬范圍，如1GHz或者3GHz。

2、確認(rèn)示波器是否有對應(yīng)近場探頭轉(zhuǎn)接頭的N型母頭接口，如果沒有N型接口就需要選擇帶BNC的轉(zhuǎn)接頭。

3、確認(rèn)被測物的頻率范圍及對應(yīng)的近場探頭類型，如磁場或電場，大部分頻率為9kHz~3GHz/6GHz/9GHz/18GHz。

4、連接近場探頭和示波器，打開示波器的頻譜分析功能，并且將近場探頭懸停在被測物上空2厘米處（越近越好），每隔5秒移動一次，看波形變化，也可以對比下開啟/關(guān)閉被測物瞬間波形變化。

5、如果被測信號比較小，可以加一個(gè)前置放大器搭配近場探頭使用。

6、發(fā)現(xiàn)干擾源之后，可以更換探頭（形狀由大到小）好確認(rèn)具體的位置。

7、近場探頭是定性測試，不是定量測試，與暗室測試結(jié)果不盡相同。

8、長時(shí)間沒發(fā)現(xiàn)干擾源的時(shí)候，可以考慮購買EMI測試接收機(jī)或者實(shí)時(shí)頻譜分析儀搭配近場探頭使用。