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激光粒度分析儀的儀器性能
Topsizer Plus 激光粒度分析儀的儀器性能
1、寬廣的測(cè)量范圍
與市場(chǎng)上其他使用不同技術(shù)通過(guò)拼接的方案提高測(cè)試范圍不同，Topsizer Plus的實(shí)測(cè)范圍為0.01-3600um，使用靜態(tài)光散射一種技術(shù)實(shí)現(xiàn)從亞微米顆粒到毫米級(jí)顆粒的檢測(cè)，嚴(yán)格符合GBT19077-2016粒度分析激光衍射法的國(guó)標(biāo)要求，并能滿足不同粉體行業(yè)對(duì)顆粒粒度檢測(cè)與控制的各種需求。
2、對(duì)大顆粒具有強(qiáng)大測(cè)試能力
3、對(duì)納米、亞微米等超細(xì)顆粒具備*識(shí)別能力
4、杰出的分辨能力
Topsizer Plus能夠精確測(cè)定樣品中顆粒分布的微小變化，準(zhǔn)確反映樣品的實(shí)際粒度分布，能充分滿足技術(shù)研究和質(zhì)量控制的需要。
5、良好的重復(fù)性
Topsizer Plus采用全自動(dòng)的激光校正系統(tǒng)、自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)，從而確保了激光角度校準(zhǔn)的準(zhǔn)確度，避免了光路的飄移，確保測(cè)試的重復(fù)性誤差小于0.5%(標(biāo)準(zhǔn)粒子D50)。
6、良好的再現(xiàn)性
不同主機(jī)或不同進(jìn)樣器之間具有良好的再現(xiàn)性。
7、快速的測(cè)試速度
Topsizer Plus快速的分散系統(tǒng)為儀器的快速測(cè)試提供了良好前提，使常規(guī)的測(cè)試能在10秒內(nèi)快速完成，大幅提升了測(cè)試的效率，更好的滿足了用戶(hù)的需求。
8、超高靈敏度
多達(dá)103個(gè)光電探測(cè)通道，由雙光源及前向、側(cè)向、大角度、后向光電探測(cè)器組成三維立體無(wú)盲區(qū)檢測(cè)系統(tǒng)，大探測(cè)角度140度。每次測(cè)試之前，軟件自動(dòng)檢測(cè)信噪度，使儀器對(duì)大小顆粒的微小變化有著超高的靈敏度。
9、*適應(yīng)性
可選具有*分散能力分散系統(tǒng)，即使對(duì)于超大密度的金屬粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而不沉淀，從而盡可能滿足各種不同密度的顆粒粒度測(cè)試的需要。