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目錄:上海西努光學科技有限公司>>工業(yè)顯微鏡>>測量顯微鏡>> MX63/MX63LMX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡

MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡
  • MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
  • 型號 MX63/MX63L
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時間:2025-07-11 09:34:25瀏覽次數(shù):4225評價

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價格區(qū)間 面議 應用領(lǐng)域 化工,汽車及零部件,電氣
MX63和MX63L顯微鏡系統(tǒng)支持檢測尺寸達300毫米的晶圓、平板顯示器、印刷電路板以及其他樣品的質(zhì)量。這些符合人體工學設計的人性化系統(tǒng)采用模塊化設計,可在各種應用中實現(xiàn)Z佳觀察條件。結(jié)合奧林巴斯Stream圖像分析軟件使用時,從觀察到生成報告的整個檢測流程更簡潔直觀。
讓您的大尺寸樣品檢測流程更加順暢


MX63和MX63L顯微鏡系統(tǒng)特別適合尺寸高達300毫米的晶圓、平板顯示器、電路板、以及其他大尺寸樣品的高質(zhì)量檢測。其采用的模塊化設計可讓您根據(jù)需要選擇組件,獲得根據(jù)應用定制的系統(tǒng)。


MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡

這兩款符合人體工學設計且人性化的顯微鏡有助于在提高工作效率的同時保持檢測者的工作舒適性。在與奧林巴斯Stream圖像分析軟件結(jié)合使用情況下,可以簡化從觀察到報告生成的整體工作流。


MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡


*的分析工具

MX63系列的各種觀察功能可生成清晰銳利的圖像,讓用戶能夠?qū)悠愤M行可靠的缺陷檢測。全新照明技術(shù)以及奧林巴斯Stream圖像分析軟件的圖像采集選項為用戶評估樣品和存檔檢測結(jié)果提供更多選擇。



從不可見到可見:MIX觀察與圖像采集

通過將暗場與諸如明場、熒光或偏光等其他觀察方法結(jié)合使用,MIX觀察技術(shù)能夠獲得觀察的圖像。MIX觀察技術(shù)可讓用戶發(fā)現(xiàn)用傳統(tǒng)顯微鏡難以看到的缺陷。暗場觀察所用的環(huán)形LED照明器具有在指定時間僅使用四分之一象限的定向暗場功能。該功能可減少樣品光暈,對于樣品表面紋理的可視化非常有用。


半導體晶圓上的結(jié)構(gòu)

MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡


集成電路圖形不夠清晰。                                           晶圓顏色不可見。                                         晶圓顏色和集成電路圖形均清晰可辨。

半導體晶圓上的光刻膠殘留物

MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡

樣品本身不可見。                                                      殘留物不清晰。                                        集成電路圖形和殘留物均清晰可辨。


聚光鏡

MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡


表面受到反射。                                                     來自不同角度定向暗場的多幅圖像。                           將沒有光暈的清晰圖像拼接在一起,創(chuàng)建樣品的單幅清晰圖像。



輕松生成全景圖像: 即時圖像拼接
利用多圖像拼接(MIA)功能, 用戶移動手動載物臺上的XY旋鈕即可輕松快速完成圖像拼接—電動載物臺無需進行該操作。奧林巴斯Stream軟件利用模式識別生成全景圖像,讓用戶獲得更寬的視場。

MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡

硬幣的即時MIA圖像



生成全聚焦圖像: EFI
奧林巴斯Stream軟件的景深擴展成像(EFI)功能可采集高度超出物鏡焦點深度的樣品圖像,并可將其合成一幅全聚焦圖像。EFI配合手動或電動Z軸調(diào)焦使用,可輕松實現(xiàn)結(jié)構(gòu)可視化的高度圖像。其也可在Stream桌面版(Desktop)離線情況下生成EFI圖像。

MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡

集成電路芯片上的凸塊


利用HDR同時捕捉明亮區(qū)域和暗光區(qū)域
采用*圖像處理技術(shù)的高動態(tài)范圍(HDR)可在圖像內(nèi)調(diào)整亮度差異,從而減少眩光。HDR改善了數(shù)字圖像的視覺品質(zhì),從而有助于生成具有專業(yè)級外觀的報告。



MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡

某些部位存在眩光。   暗光區(qū)域和明亮區(qū)域利用HDR獲得清晰呈現(xiàn)。 TFT陣列因濾色片的亮度而漆黑一片。    TFT陣列利用HDR獲得呈現(xiàn)。


從基本測量到上等分析
測量對于品質(zhì)、工藝控制和檢測非常重要。基于這一想法,即便是入門級奧林巴斯Stream軟件包也融入了交互測量功能的全部菜單,并且所有測量結(jié)果與圖像文件一起保存以便存檔。此外,奧林巴斯Stream材料解決方案可為復雜圖像分析提供面向工作流的直觀界面。點擊按鈕一下,圖像分析任務即可快速精準完成。在大幅度縮減重復性任務的處理時間情況下,操作人員可以將精力集中在手邊的檢測工作上。


MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡

基本測量(印刷電路板上的圖形)                            分散能力解決方案(PCB通孔的橫截面)                自動測量解決方案(晶圓結(jié)構(gòu))



高效的報告創(chuàng)建
創(chuàng)建報告所用的時間常常比采集圖像和測量還長。奧林巴斯Stream軟件提供了直觀的報告創(chuàng)建功能,能夠根據(jù)預先設定的模板多次創(chuàng)建專業(yè)復雜的報告。編輯非常簡單,報告可導出為MicrosoftWord或PowerPoint文件。此外,奧林巴斯Stream報告功能能夠?qū)Σ杉膱D像進行數(shù)字變焦和倍率放大。報告文件大小適中,通過電子郵件進行數(shù)據(jù)傳遞更加方便。


MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡



獨立相機選項
利用DP22或DP27顯微鏡相機,MX63系列即可成為*的獨立系統(tǒng)。該相機采用幾乎不占空間的緊湊型控制盒進行控制,在采集清晰圖像以及進行基本測量工作的同時讓實驗室空間得到充分利用。


MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡

相機控制盒



支持潔凈室合規(guī)性的*設計
MX63系列專為潔凈室工作而設計,并具有幫助很大限度減小樣品污染或受損風險的功能。該系統(tǒng)采用人體工學設計,可幫助用戶在長時間使用中保持舒適。MX63系列符合包括SEMI S2/S8、CE和UL國際規(guī)范及標準要求。
選配晶圓搬送機 — AL120系統(tǒng)*
選配的晶圓搬送機可安裝在MX63系列上,實現(xiàn)無需使用鑷子或工具即可**地將硅片及化合物半導體晶圓從片盒轉(zhuǎn)移到顯微鏡載物臺上。**的性能和可靠性可實現(xiàn)**高效的前后宏觀檢測,同時搬送機還可幫助提高實驗室工作效率。

MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡

MX63系統(tǒng)與AL120晶圓搬送機結(jié)合使用(200毫米型號)
* AL120 未在歐洲、中東、非洲地區(qū)(EMEA)銷售。


快速、清潔的檢測
MX63系列可實現(xiàn)無污染的晶圓檢測。所有電動組件均安裝在防護結(jié)構(gòu)殼內(nèi),顯微鏡鏡架、鏡筒、呼吸防護罩、及其他部件均采用防靜電處理。電動物鏡轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)速比手動物鏡轉(zhuǎn)換器更快更**,縮短檢測間隔時間的同時,讓操作人員的手始終保持在晶圓下方,避免了潛在的污染。

MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡

防靜電呼吸防護罩                                                                    電動物鏡轉(zhuǎn)換器


系統(tǒng)設計實現(xiàn)高效觀察

利用內(nèi)置離合和XY旋鈕,XY載物臺能夠?qū)崿F(xiàn)對載物臺移動的粗調(diào)和微調(diào)。即便針對諸如300毫米晶圓這樣的大尺寸樣品,載物臺也可幫助實現(xiàn)高效的觀察
可調(diào)傾角觀察鏡筒的調(diào)節(jié)范圍可讓操作人員以舒適的姿態(tài)坐在顯微鏡前工作。

MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡

帶有內(nèi)置離合的載物臺手柄                                        可調(diào)傾角觀察鏡筒可確保舒適的工作姿態(tài)


接受所有晶圓尺寸

MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡

晶圓支架和玻璃板

該系統(tǒng)可配合各類150–200毫米和200– 300毫米晶圓支架和玻璃板使用。

如果生產(chǎn)線上的晶圓尺寸發(fā)生變化,以很少的成本即可更改顯微鏡鏡架。

有了MX63系列,各種載物臺均可用于檢測75毫米、100毫米、125 毫米和150毫米晶圓。



**可定制
MX63系列設計用于讓用戶能夠選擇各種光學器件滿足其特定的檢測和應用需求。該系統(tǒng)可使用所有觀察方法。用戶還可從一系列的奧林巴斯Stream圖像分析軟件包中進行選擇,以滿足其特定的圖像采集和分析需求。


兩個系統(tǒng)兼容多種樣品規(guī)格
MX63系統(tǒng)能夠檢測尺寸達200毫米的晶圓,而MX63L系統(tǒng)能夠以與MX63系統(tǒng)相同的較小占用空間,檢查尺寸達到300毫米的晶圓。模塊化設計可讓根據(jù)您的特定需求定制顯微鏡變得更加輕松。

MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡      MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡


MX63                                                                  MX63L


紅外兼容性
紅外觀察可利用紅外物鏡透鏡實現(xiàn),該物鏡能夠通過透射紅外線的硅特性讓操作人員實現(xiàn)對封裝和安裝在印刷電路板上的集成電路芯片內(nèi)部進行非破壞檢測。5X到100X紅外物鏡可實現(xiàn)從可見光波長到近紅外波長的色差校正。

MX63 系列半導體/FPD檢查顯微鏡

紅外物鏡透鏡                                                               原始圖像                                                               有色差


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