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便攜式現(xiàn)場PID測試儀 參考價(jià):面議
便攜式現(xiàn)場PID測試儀(電位誘發(fā)衰減)測試儀,適用于不同類型和尺寸的晶體硅組件,無需拆裝,測試時(shí)間在8小時(shí)之內(nèi)(測量時(shí)間將少于8小時(shí))。PIDcheck是與德國...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)