| 產(chǎn)地類別 |
國產(chǎn) |
應用領域 |
能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣 |
身體重測量儀 型號；HAD-HGM-200采用微電腦控制和的聲波測量，自動測量身、體重，測量結(jié)果數(shù)碼顯示并語間報出。本機是院、學校、體檢中心和健身房等的理想選擇。
主要參數(shù)：
測范圍：100-200cm 分度值：0.5cm
稱重范圍：8kg-160kg 分度值：0.1kg
機身度：240cm
作電壓：AC220V
身體重測量儀 型號；HAD-HGM-200
HAD-HGM－200型身體重測量儀采用微電腦控制和的聲波測量，自動測量身、體重，測量結(jié)果數(shù)碼顯示并語間報出。本機是院、學校、體檢中心和健身房等的理想選擇。
主要參數(shù)：
測范圍：100-200cm 分度值：0.5cm
稱重范圍：8kg-160kg 分度值：0.1kg
機身度：240cm
作電壓：AC220V 50HZ
率：6W<
整機度: 231cm
2.智能顆粒強度測定儀/顆粒強度測定儀/顆粒強度檢測儀 型號:HADL3
簡介
HADL3型智能顆粒強度測定儀是一種具有智能化的測量儀器，它是繼DLII型智能顆粒強度測定儀之后推出的新一代產(chǎn)品。其電路原理及結(jié)構作了重大改進，整機功能進一步提高?？蓮V泛應用于化工、醫(yī)藥、石油等行業(yè)中的催化劑、分子篩、磷化鋁、氧化鋁、吸附劑等球狀、條狀、柱狀剛性物料破碎強度的測定。它是微機技術、電子技術和機械技術相結(jié)合的綜合產(chǎn)物，采用單片微型計算機作為整個儀器的控制核心，采用高精度力傳感器作為檢力元件，采用高精度測長裝置作為測長儀，精密運算放大器保證了模擬信號的線性處理。該儀器精度高，功能全，操作簡單，具有較高的性能價格比。儀器具有數(shù)據(jù)存貯、數(shù)據(jù)重復顯示和計算的功能。如果單使用強度測定儀，它可以將每顆樣品的破碎力值顯示并存儲，可計算出平均值、標準離差、變異系數(shù)、低強度百分比等有關標準中所規(guī)定的各種數(shù)值，可重復顯示。
本測定儀具有穩(wěn)定的加力速度，保證了測試的準確。
若需測出條狀樣品的徑向破碎強度、柱狀樣品的軸相破碎強度，需配以專用測長儀并可自動算出、顯示上述數(shù)值。
連接專用打印機可打印出具有測試和計算結(jié)果的《強度測試報告》。
專用測長儀和打印機需另行購買。
本測定儀可根據(jù)不同行業(yè)客戶的需求，可增加儀器與微機通訊的功能（選配功能接口板）。
通過串行通信電纜使上位機與本儀器相連，用戶自行編寫上位機通信軟件與儀器進行通信控制，將該儀器作為測試平臺的一部分。系統(tǒng)集成后，通過上位機平臺軟件控制與該儀器進行數(shù)據(jù)交換，使該儀器的測試數(shù)據(jù)上傳到上位機，由上位機進行統(tǒng)一的數(shù)據(jù)分析與處理。
通過系統(tǒng)集成，可以使數(shù)據(jù)進行電子化管理，減少了人為統(tǒng)計數(shù)據(jù)過程中錯誤的發(fā)生，降低了測試人員數(shù)據(jù)統(tǒng)計的繁瑣勞動。方便測試數(shù)據(jù)的全面分析和歷史數(shù)據(jù)的保存，及對產(chǎn)品的開發(fā)過程或生產(chǎn)質(zhì)量狀況進行跟蹤。
3.銹蝕腐蝕測定儀專用拋光機/銹蝕拋光機 型號:HAPG-1
用于對銹蝕棒的拋光，使之達到試驗要求的光潔度。
★轉(zhuǎn)速：3600rpm。
4.光合有效輻射計 有效輻射計 型號：HAD-GLZ-A/B/C
光合有效輻射計的詳細介紹
儀器名稱：光合有效輻射計（光量子計）
儀器型號：HAD-GLZ-A/B/C
5.粉末電阻率測試儀/半導體粉末電阻率測試儀 型號；HHY8-FZ-2010
HHY8-FZ-2010半導體粉末電阻率測試儀是本公司根據(jù)能源方面，與其是鋰電池技術的研究需求，開發(fā)的最新型粉末電阻率測試儀。
本產(chǎn)品參照有關國際標準設計，配置粉末測試臺或四探針測試臺，可以對粉末、片狀、塊狀半導體材料以 及固態(tài)金屬進行電阻、電阻率、方塊電阻等多用途測量。
測量范圍：電阻10-4---106，分辨率1μΩ. ㎝。
電阻率 10-4---106，分辨率1μΩ. ㎝。
薄層電阻 10-3 ---- 107 Ω/□ ，分辨率10-5 Ω/□。
測量電壓量程：0.2mv\2mv\20mv\200mv\2v，分辨率0.1μν，測量精度 ±（0.3%讀數(shù)+2字）。
測量電流：0--100mA 連續(xù)可調(diào)。電流量程 1μΑ、10μΑ、100μΑ、1mΑ、10mΑ、100mΑ。
粉末測量：1、試樣粒度--標準篩網(wǎng)40目以上直至納米材料。 2、試樣容器---內(nèi)腔φ16.30±0.1mm或φ6±0.1mm。 3、試樣高度---16mm±0.5mm或6~20mm±0.1mm。測量誤差±0.1mm。4、取樣壓力--4Mpa±0.5Mpa(40kg/cm2 ±0.5kg/cm2 )或8Mpa±0.5Mpa(80kg/cm2 ±0.75kg/cm2 )，壓力量程--0~200kg可調(diào)。
固體薄膜及半導體測量：四探針測試架---1、探針間距1mm±0.03mm；2、探針游移率﹤±0.3%；3、可測材料尺寸--直徑φ15~160mm，長度<400mm。
顯示方式：3?位數(shù)字顯示電阻、電阻率、壓力、高度。單位、小數(shù)點自動顯示。
電源：220±10% 50HZ~60HZ 功率消耗<150W。
外形尺寸： 440mm×120mm×420mm。
以上參數(shù)資料與圖片相對應
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