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Agilent安捷倫安柏LCR測(cè)試儀軟件

    1、軟件概述

    ◆NS-LCR測(cè)試儀程控軟件用于測(cè)量BNT基陶瓷材料、金屬樣塊、變壓器、電阻等的阻抗、電容值和損耗值，可以根據(jù)設(shè)置的時(shí)間間隔和頻率點(diǎn)進(jìn)行相應(yīng)測(cè)試，實(shí)現(xiàn)整體測(cè)試過程的自動(dòng)化。

      2、軟件特點(diǎn)

        ◆系統(tǒng)為L(zhǎng)CR表提供包括TCP/LAN/以太網(wǎng)、USB、GPIB、TTL、RS232、RS485、藍(lán)牙的連接方式；

       ◆測(cè)試的時(shí)間間隔和頻率點(diǎn)可手動(dòng)設(shè)置；

       ◆測(cè)量的、電容、損耗等數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)采集顯示、自動(dòng)保存本地，并可以在系統(tǒng)上實(shí)時(shí)可視化顯示；

        ◆測(cè)量數(shù)據(jù)可通過改變X軸和Y軸內(nèi)容繪制不同形式的趨勢(shì)圖；

        ◆系統(tǒng)實(shí)時(shí)顯示測(cè)試設(shè)備已經(jīng)運(yùn)行的總時(shí)間；

        ◆用戶可通過選擇不同的測(cè)試儀器完成對(duì)產(chǎn)品的測(cè)試；

        ◆系統(tǒng)中測(cè)試參數(shù)的配置可根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目的不同進(jìn)行相應(yīng)的設(shè)置；

        ◆用戶可根據(jù)不同被測(cè)產(chǎn)品選擇不同的測(cè)試項(xiàng)目；

        ◆產(chǎn)品測(cè)試信息可實(shí)時(shí)編輯，所有測(cè)試數(shù)據(jù)均保存至本地，方便隨時(shí)查詢；

        ◆自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)告，用戶可根據(jù)需要定制報(bào)告模板；

        ◆操作簡(jiǎn)單，節(jié)約人力資源，提高了測(cè)試效率；

        ◆軟件提供可擴(kuò)展接口，支持其它儀器儀表的自動(dòng)化測(cè)試接口接入。

3、兼容儀器

◆是德科技Keysight、同惠等品牌LCR表。

4、軟件流程圖

5、軟件界面

　　5.1、軟件主界面

　　打開軟件后，首*入軟件的主界面。

　　5.2、儀器連接界面

　　界面的左上方為儀器連接模塊，首先需要選擇通訊端口，選擇完通訊端口后，對(duì)應(yīng)的波特率會(huì)顯示出來，點(diǎn)擊連接按鈕，儀器連接成功會(huì)顯示綠色。

　　5.3、全局參數(shù)設(shè)置界面

　　界面左側(cè)為全局參數(shù)配置，首先在測(cè)量設(shè)置中可選擇測(cè)試模式（有點(diǎn)頻單次測(cè)試、點(diǎn)頻連續(xù)測(cè)試、步進(jìn)掃描測(cè)試、列表掃描測(cè)四種），測(cè)試頻率可自行選擇。在參數(shù)設(shè)置界面可自行輸入一般參數(shù)數(shù)值。如果打開主參數(shù)閾值，則可設(shè)置參數(shù)的上下限。

　　5.4、運(yùn)行測(cè)試

　　5.4.1、點(diǎn)頻單次測(cè)試界面

　　◆完善參數(shù)

　　在此界面中進(jìn)行試驗(yàn)的具體參數(shù)設(shè)置，選擇測(cè)試模式、測(cè)試頻率、輸出測(cè)試通道的所有參數(shù)，測(cè)試模式點(diǎn)擊選擇“點(diǎn)頻單次測(cè)試"，完善所有參數(shù)設(shè)置。

　　若主參數(shù)閾值打開，則上限與下限的值可以在輸入框中輸入。

　　◆開始測(cè)試界面

　　用戶配置完所有試驗(yàn)參數(shù)之后，在界面正上方輸入產(chǎn)品編號(hào)，點(diǎn)擊開始測(cè)試。

　　◆測(cè)試完成界面

　　測(cè)試完成后，系統(tǒng)會(huì)給出測(cè)試結(jié)果。測(cè)試結(jié)果包括產(chǎn)品編號(hào)、電阻、電抗、上限閾值和下限閾值，最終會(huì)顯示測(cè)試結(jié)果是否通過，如果通過則顯示“Pass"。

　　5.4.2、點(diǎn)頻連續(xù)測(cè)試界面

　　在此界面中進(jìn)行試驗(yàn)的具體參數(shù)設(shè)置，選擇測(cè)試模式、測(cè)試頻率、輸出測(cè)試通道的所有參數(shù)，測(cè)試模式點(diǎn)擊選擇“點(diǎn)頻連續(xù)測(cè)試"，并設(shè)置測(cè)試時(shí)長(zhǎng)和時(shí)間間隔，完善所有參數(shù)設(shè)置。

　　◆開始測(cè)試界面

　　待所有配置參數(shù)完成設(shè)置后，點(diǎn)擊開始測(cè)試，系統(tǒng)會(huì)呈現(xiàn)出電阻和電抗關(guān)系的波形圖。

　　5.4.3、步進(jìn)掃描測(cè)試界面

　　在此界面中進(jìn)行試驗(yàn)的具體參數(shù)設(shè)置，選擇測(cè)試模式、測(cè)試頻率、輸出測(cè)試通道的所有參數(shù)。測(cè)試模式點(diǎn)擊選擇“步進(jìn)掃描測(cè)試"，設(shè)置測(cè)試的起止頻率和終止頻率，同時(shí)要自行設(shè)置掃描步徑，完善所有參數(shù)設(shè)置。

　　◆開始測(cè)試界面

　　待所有配置參數(shù)完成設(shè)置后，點(diǎn)擊開始測(cè)試，可選擇查看數(shù)據(jù)表或數(shù)據(jù)軌跡。點(diǎn)擊查看“數(shù)據(jù)表"，在數(shù)據(jù)表界面，系統(tǒng)會(huì)根據(jù)不同頻率對(duì)應(yīng)不同的電阻和電抗值。

　　5.4.4、數(shù)據(jù)軌跡界面

　　待所有配置參數(shù)完成設(shè)置后，點(diǎn)擊開始測(cè)試，可選擇查看數(shù)據(jù)表或數(shù)據(jù)軌跡。點(diǎn)擊查看“數(shù)據(jù)軌跡"，在數(shù)據(jù)軌跡界面，系統(tǒng)會(huì)呈現(xiàn)出電阻和電抗關(guān)系的波形圖。

　　5.4.5、列表掃描測(cè)試模塊

　　在此界面中進(jìn)行試驗(yàn)的具體參數(shù)設(shè)置，選擇測(cè)試模式、測(cè)試頻率、輸出測(cè)試通道的所有參數(shù)。測(cè)試模式點(diǎn)擊選擇“列表掃描測(cè)試"，在圖所選區(qū)域中可自行設(shè)置測(cè)試頻率、上限值、下限值等。

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