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利用 Agilent 5900 SVDV ICP-OES實(shí)現(xiàn)快速可靠的 US EPA 方法 200.7 合規(guī)分析

一次分析即可測(cè)定所有元素 許多環(huán)境實(shí)驗(yàn)室使用 ICP-OES 并根據(jù)法規(guī)方法（例如 US EPA 200.7）來分析大量不 同類型的樣品：水、土壤和污泥。為快速獲得高質(zhì)量的分析結(jié)果，快速分析和無差 錯(cuò)的工作流程至關(guān)重要。樣品前處理或儀器性能不佳產(chǎn)生的錯(cuò)誤可能導(dǎo)致必須重新 測(cè)量樣品，進(jìn)而導(dǎo)致分析效率降低。 Agilent 5900 同步垂直雙向觀測(cè) (SVDV) ICP-OES 專為高通量實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)，旨在通 過少的氬氣消耗實(shí)現(xiàn)快速的樣品測(cè)量。5900 憑借 IntelliQuant 和早期維護(hù)反饋 (EMF) 診斷等一系列智能功能，提高了分析和儀器性能。獲得額外的樣品和操作信 息能夠減少儀器意外停機(jī)和樣品重新測(cè)量，讓您對(duì)儀器的操作性能和分析結(jié)果更具 信心。

 

面向未來的 ICP-OES 分析： Agilent 5900 SVDV ICP-OES 采用了*的智能光譜組合技術(shù) (DSC)[1] 光學(xué)組件，能夠 在一次讀數(shù)過程中同時(shí)采集軸向和徑向觀測(cè)數(shù)據(jù)。與其他所有 ICP-OES 儀器相比， 5900 的樣品測(cè)量時(shí)間縮短了一半，并且能夠在短的時(shí)間內(nèi)提供準(zhǔn)確的結(jié)果，同 時(shí)單個(gè)樣品的氬氣消耗量低。通過控制單次分析成本，您的 ICP-OES 可處理更多 樣品，從而滿足不斷增加的實(shí)驗(yàn)室需求。

 

利用智能工具縮短停機(jī)時(shí)間：ICP-OES 的主動(dòng)維護(hù)功能對(duì)于滿足 US EPA 200.7 等法規(guī)方法規(guī)定 的性能標(biāo)準(zhǔn)至關(guān)重要。5900 ICP-OES 利用智能 EMF 診斷功能來保持性能，大程度延長(zhǎng)儀器的正常運(yùn)行時(shí)間，并防患于未 然。EMF 對(duì)儀器的實(shí)際使用情況進(jìn)行跟蹤，不同顏色標(biāo)識(shí)的計(jì)數(shù) 器（圖 1）顯示了哪些維護(hù)活動(dòng)應(yīng)當(dāng)立即執(zhí)行（紅色），哪些可 以等待（綠色）。即使像蠕動(dòng)泵管磨損這樣的小問題也將對(duì)水樣 分析通常要求的低檢測(cè)限造成嚴(yán)重影響。EMF 系統(tǒng)可確保僅在必 要時(shí)更換消耗品。根據(jù)實(shí)際使用情況而不是預(yù)定計(jì)劃表做出維護(hù) 決策，可節(jié)省時(shí)間、精力和費(fèi)用。

 

標(biāo)記異常結(jié)果： ICP Expert 軟件的異常值條件格式 (OCF) 功能能夠幫助您在大型 數(shù)據(jù)集中快速、輕松地找到可能存在問題的結(jié)果。通過配置該功 能可突出顯示超出用戶自定義限值或未通過測(cè)試的結(jié)果。例如， OCF 可識(shí)別通常由霧化器局部堵塞、泵管磨損或霧化室臟污導(dǎo)致 的低精密度（高 %RSD）結(jié)果。在圖 2 中，OCF 對(duì)所有 %RSD 大 于 10% 的結(jié)果進(jìn)行了標(biāo)記（標(biāo)記“B”）。 使用方法 200.7 分析的許多樣品固體含量較高，因此可能會(huì)出現(xiàn) 霧化器局部堵塞。為檢測(cè)霧化器堵塞（或泄漏），5900 使用 Neb Alert 功能持續(xù)監(jiān)測(cè)霧化器反壓，并與預(yù)期值進(jìn)行比較。如果超過 壓力閾值，則會(huì)立即提醒操作者可能發(fā)生了堵塞，從而實(shí)現(xiàn)快速 響應(yīng)。

 

方法 200.7 合規(guī)分析 利用配備 AVS 7 切換閥系統(tǒng)的 5900 SVDV ICP-OES，根據(jù) 方法 200.7 進(jìn)行水樣的快速分析。MDL 如表 1 所示。每個(gè) 樣品僅需 57 秒即可測(cè)定其中的所有元素，減少了單個(gè)樣 品的氬氣消耗量，大程度提高了收益。EMF 能夠確保維持性能、大程度減少 QC 不合格，從而大程度減 少樣品重新測(cè)量。