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理想情況下，ICP-OES儀器應(yīng)該具有無限的光譜分辨率，無論什么樣的樣品，各個元素的靈敏發(fā)射譜線都不受光譜干擾。對于復雜的樣品基質(zhì)來說，這樣的情況常常不大可能，但是，安捷倫快速自動曲線擬合技術(shù) (FACT) 卻將這理想變成了現(xiàn)實。它采用了一種高度復雜卻又易于使用的光譜建模技術(shù)，對 ICP-OES 分析棘手樣品時經(jīng)常遇到的復雜分析光譜進行準確建模。

 

FACT 的優(yōu)勢在于它能夠準確校正分析物波長附近的強重疊峰。在采集分析數(shù)據(jù)之前或之后都可以創(chuàng)建 FACT 模型，過程非常簡單，您可信心十足地應(yīng)對任何挑戰(zhàn)性樣使用 FACT 光譜譜圖解析軟件對復雜樣品進行實時光譜校正 Agilent 5800 和Agilent 5900 ICP-OES 2 品。有了 FACT，無需對樣品做更多的處理，無需重新分析樣品，也無需因在含有大量錯誤數(shù)據(jù)的分析結(jié)果中尋找正確數(shù)據(jù)而感到心煩意亂，可大大節(jié)省您的寶貴時間。與元素間干擾校正 (IEC) 相比，F(xiàn)ACT 的使用更簡單，功能也更強大。它還可準確校正背景，尤其適用于處理極為復雜的背景結(jié)構(gòu)（傳統(tǒng)的背景校正技術(shù)對此往往束手無策）。

 

FACT 的工作原理： FACT 通過使用高級光譜建模技術(shù)提供實時光譜校正，以數(shù)學方式從原始光譜中解析（即分離）分析物信號，并通過分別測定預期組分以及各自的響應(yīng)來建模。通常需測定如下溶液： 1. 空白溶液 2. 純分析物溶液 3. 純干擾物溶液

 

對每個光譜組分模型進行分析并擬合為高斯曲線，以獲得該譜峰的數(shù)學描述。檢驗剩余結(jié)構(gòu)的殘差，如果殘差足夠大，將其擬合至其他高斯分布中。模型可表示為高斯峰與相對小的殘差之和。通過在波長范圍內(nèi)監(jiān)測 6 根等離子體發(fā)射譜線，可計算出在模型創(chuàng)建與分析應(yīng)用之間可能出現(xiàn)的小的波長偏移或漂移。這樣可以長期保持模型的波長準確性。與 IEC 不同，采用 FACT 無需知道各溶液中分析物和干擾物的濃度。溶液濃度只要足夠高，就能輕松將其從背景中區(qū)分開（通常是檢測限的 50 倍）。圖 1 的例子示出了針對主要的鎘 214.439 nm 發(fā)射譜線構(gòu)建的模型，該譜線受不太靈敏的 214.445 nm 鐵發(fā)射譜線的部分干擾。在分析土壤樣品時經(jīng)常會出現(xiàn)這樣的情況，由于存在高濃度的鐵，所以很難準確測定痕量的鎘。

 

總結(jié): FACT 通過使用高級光譜建模技術(shù)提供實時光譜校正，以數(shù)學方式從原始光譜中分離分析物信號。與元素間校正相比， FACT 的使用更簡單，功能更強大，它可準確校正背景，幫助您信心十足地分析光譜復雜的樣品。