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引言：Agilent 7700x/7800 系列 ICP-MS 八極桿反應(yīng)池系統(tǒng) (ORS) 將碰撞/反應(yīng)池(CRC) 技術(shù)應(yīng)用于飲用水中痕量金屬元素的環(huán)境分析中。ORS 經(jīng)過優(yōu)化后顯著改善了氦碰撞模式消除多原子干擾的的性能。He 模式具有簡單、普遍適用的特點，使 7700x/7800 ICP-MS 在一套條件下就能夠消除所有多原子干擾，不需要事先了解任何關(guān)于樣品的組成方面的情況，不需要任何復(fù)雜的數(shù)學(xué)校正。其結(jié)果是易于設(shè)置、降低了檢出限、加快了分析速度、改善了干擾消除能力，尤其是對于那些棘手的來自等離子體的影響鐵和硒的干擾。現(xiàn)在，氦模式中硒的檢出限通常小于 20 ppt。

 

更好的靈敏度，更好的準確度，更好的動態(tài)范圍除更高效的碰撞/反應(yīng)池之外，7700x/7800 ICP-MS 還采用了改進的離子透鏡與全新檢測器，因此與前代 ICP-MS 相比具有更高的靈敏度與更低的背景。對于常規(guī)的水樣分析，無論是干凈的市政井水還是高總?cè)芙夤腆w (TDS) 的礦物質(zhì)水，都不需要特殊的調(diào)諧和最佳化。所有儀器最佳化全部自動完成，包括全新的一次點擊式等離子體設(shè)置 (One-clickPlasma Setting) 功能進行快速自動等離子體設(shè)置，更快更為重現(xiàn)的自動調(diào)諧功能（專家自動調(diào)諧 Expert AutoTune）。2圖 1 是 7700x ICP-MS 得到的典型的校準曲線。為了穩(wěn)定Ag、Sb 和 Hg，所有校準標準都含 1% HNO3 和 0.5% HCl。ICP-MS 中為了避免 Cl 基對 As、Se、Cr 和 V 的干擾，通常不使用 HCl 的，但 ORS 不用使用氫氣或其它反應(yīng)氣體，直接用氦模式能夠消除這類干擾。3.7 ppt 的 V 的背景相當(dāng)濃度值 (BEC) 證明了 7700x 在氦模式時有效消除了 ClO+ 對51 質(zhì)量的干擾。這種干擾采用其他手段是很難消除的，通常需要高反應(yīng)池氣體，比如 NH3 或 NH3/He，而這些氣體不適合于多元素分析的。

代表性 ppt 方法檢出限（MDLs，低校準標準 10 次重復(fù)測定的 3 sigma）列于表 1。這些 MDLs 不是在高度最佳化條件下得到的，使用的是缺省的 One-click Plasma Setting常規(guī)耐用性等離子體條件測定 (CeO+/Ce+ < 1%)。7700x/7800 ICP-MS 的高靈敏度意味著該儀器可以很容易實現(xiàn)水樣中痕量級污染物的準確分析，而且，內(nèi)置的高基質(zhì)進樣 (HMI) 系統(tǒng)能確保長時間分析高基質(zhì)樣品時的上好耐用性及長期穩(wěn)定性。本工作對一組飲用水樣品、兩個高TDS 礦物質(zhì)水（樣品 A，TDS 為 109 mg/L；樣品 B，TDS3為 309 mg/L）、NIST 1643e 參考水樣（稀釋 1/10）連續(xù)分析了 11 個小時。分析程序包括 USEPA 法定的連續(xù)校準確認以及連續(xù)校準空白樣品（CCVs 和 CCBs），總測定數(shù)為 190 個，每個樣品的平均分析時間不到 3.5 分鐘。圖 2是整個采集期間所有方法分析元素的 CCV 回收率曲線。沒有一個元素的 CCV 超出 USEPA l 規(guī)定的 ± 10% 限（紅色）。表 2 列出了分析程序中對 NIST 1643e（1/10 稀釋，以測試低含量的靈敏度和精密度）的 28 個分析元素的平均回收率和相對標準偏差。

結(jié)論Agilent 7700x/7800 ICP-MS 將八級桿反應(yīng)池系統(tǒng) (ORS)、離子透鏡和檢測器結(jié)合，能夠測定飲用水中規(guī)定濃度下的所有監(jiān)管元素，不需要反應(yīng)池氣體或復(fù)雜的干擾校正公式。數(shù)據(jù)質(zhì)量可靠，分析效率顯著提高。7700x/7800 具有較寬的操作動態(tài)范圍，集成的 HMI 系統(tǒng)為高基質(zhì)樣品提供了耐受性。此外，無論是飲用水分析還是那些較為復(fù)雜的環(huán)境樣品比如土壤和淤泥，其所用的最佳化條件都一樣簡單，這就消除了儀器只能使用反應(yīng)池氣體所需的樣品特殊最佳化需求。