近幾年，隨著光學(xué)產(chǎn)品的快速發(fā)展，從航天、軍事等高科技產(chǎn)品到數(shù)碼相機(jī)、手機(jī)等大眾消費(fèi)產(chǎn)品，無不與光學(xué)息息相關(guān)，推動(dòng)了光學(xué)研究和光學(xué)加工的快速發(fā)展，同時(shí)也光學(xué)檢測(cè)手段提出了更高的要求，也正因?yàn)槿绱?，激光干涉儀成為眾多光學(xué)冷加工廠商的夢(mèng)想與追求，擁有一臺(tái)激光干涉儀，就擁有的檢測(cè)手段，就擁有令人信服的檢測(cè)結(jié)果，就能證明可以生產(chǎn)的產(chǎn)品。
那么，當(dāng)你使用激光干涉儀的時(shí)候，能否正確的使用它呢？能否讓它的功能檢測(cè)功能發(fā)揮出來呢？以下關(guān)于激光干涉儀基本知識(shí)的學(xué)習(xí)是必須的了。
一、激光干涉儀的使用方法：
1、開機(jī)：接通電源打開電源開關(guān)，1分鐘后開始檢測(cè)。（因?yàn)閯傞_機(jī)激光器不穩(wěn)定）
2、光路調(diào)整：旋上適合的標(biāo)準(zhǔn)鏡頭使標(biāo)準(zhǔn)鏡頭的星點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)尋星窗口中間的黑點(diǎn)，顯示器上顯示完整的圓形圖像。
3、透鏡面形檢測(cè)：調(diào)節(jié)沉座到被檢透鏡的適合尺寸，（建議大批量固定透鏡的檢測(cè)，自己加工固定的沉座）放上透鏡調(diào)節(jié)高度和透鏡調(diào)節(jié)鈕使透鏡的星點(diǎn)與標(biāo)準(zhǔn)鏡頭的星點(diǎn)重合，觀測(cè)顯示器是否出現(xiàn)干涉條紋，條紋越少精度越高。干涉圖像與對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)同步，無需切換，任何人都能簡(jiǎn)單操作。
星點(diǎn)重合干涉條紋（判讀可參考第三節(jié)）
沉座沉座尺寸M46X1M70X1高度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)
高度調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)選擇加長的測(cè)試軌道來配合測(cè)量尺寸，可簡(jiǎn)便的測(cè)量出曲率半徑。
4、透鏡曲率半徑檢測(cè)：開啟標(biāo)尺電源開關(guān)（清零），調(diào)整圖像到看清直線干涉條紋(3條到5條），凸透鏡向上調(diào)節(jié)高度（凹透鏡向下調(diào)節(jié)高度）到第2個(gè)星點(diǎn)出現(xiàn)的時(shí)候調(diào)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)鏡頭調(diào)節(jié)旋鈕，使圖像出現(xiàn)貓眼像，標(biāo)尺移動(dòng)的數(shù)值就為被測(cè)透鏡的曲率半徑。
貓眼干涉條紋
標(biāo)尺（標(biāo)尺上紅點(diǎn)按鍵為標(biāo)尺電源開關(guān)長按標(biāo)尺紅點(diǎn)按鍵為關(guān)）
二、激光干涉條紋判讀
對(duì)干涉條紋的判斷，直接關(guān)系到檢測(cè)結(jié)果的正確性，所以這里的學(xué)習(xí)很重要。
1、調(diào)整干涉條紋，使被檢區(qū)域出現(xiàn)3條到5條干涉條紋；
2、光圈的數(shù)目N，由通過直徑的最大彎曲量b與條紋間隔a的比值確定，即N=b/a;
3、局部光圈數(shù)目△N，由條紋的不規(guī)則程度C，與條紋間隔a的比值確定。
三、常見故障及解決方法
開機(jī)無顯示：1、是否接上電源打開開關(guān)。2、顯示器是否切換到BNC模式。
視場(chǎng)不完整：1、標(biāo)準(zhǔn)鏡頭是否旋到位。2、標(biāo)準(zhǔn)鏡頭星點(diǎn)是否與尋星窗口中間的黑點(diǎn)重合。
高度調(diào)節(jié)不明顯：檢查高度調(diào)節(jié)旋鈕是否鎖緊。
干涉條紋暗：調(diào)節(jié)干涉儀上的亮度調(diào)節(jié)旋鈕。
干涉條紋亂：檢查標(biāo)準(zhǔn)鏡頭與被測(cè)透鏡表面是否干凈。
被測(cè)鏡片星點(diǎn)像找不到：調(diào)整鏡片的中心，看鏡片是否放置的傾斜。
條紋亮暗閃動(dòng)：調(diào)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)鏡頭的圓形圖像。
四、使用環(huán)境
因?yàn)楣鈱W(xué)玻璃受熱變形將產(chǎn)生光學(xué)表面光圈的變化，溫度不穩(wěn)定將直接影響測(cè)量精度的可靠性，所以激光干涉儀的使用對(duì)環(huán)境也有一定的要求：
1、溫度要求在20℃左右，濕度不大于60%。
2、遠(yuǎn)離振動(dòng)源，以免條紋產(chǎn)生抖動(dòng)影響測(cè)量精度的判斷。
