TH2638B高速精密電容測(cè)量?jī)x

TH2638B高速精密電容測(cè)量?jī)x

TH2638 可提供在所有頻率下基本精度為±0.07%（C）、±0.0005（D）的 C-D 測(cè)量， 且在每個(gè)范圍內(nèi)都具有七位數(shù)的分辨率（損耗因數(shù)分辨率為 1 ppm）。  

利用其內(nèi)置的比較器，TH2638 可輸出比較/判定結(jié)果，用于將元件分類為最多 10 個(gè)分 檔（BIN）。此外，通過使用處理器接口和掃描儀接口選件，TH2638 很容易與元器件處理器、 掃描儀和

系統(tǒng)控制器結(jié)合使用，以使元器件測(cè)試、分類和質(zhì)量控制數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化。   GPIB/LAN/USB 接口是 TH2638 上的標(biāo)準(zhǔn)接口（TH2638A/B/C 不包含 GPIB 和 Scanner 接口），并支持自

動(dòng)測(cè)試。

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號(hào)

TH2638B

顯示

4.3 TFT LCD顯示器480×272

基本測(cè)量準(zhǔn)確度

容量C: 0.07%，損耗D：±0.0005

測(cè)試頻率

100Hz,120Hz,1kHz,10kHz

AC信號(hào)電平

0.1V—1V,分辨率0.001V

信號(hào)源輸出阻抗

0.3Ω、1.5Ω、10Ω根據(jù)阻抗自動(dòng)調(diào)整

測(cè)試參數(shù)

Cp-D, Cp-Q,  Cp-Rp, Cp-G, Cs-D,  Cs-Q,Cs-Rs, Cs-Rs-Ls

測(cè)試速度 (ms/次)

2.3ms,10ms,40ms,55ms,75ms

測(cè)試電容量程分布

1pF,2.2pF,4.7pF,10pF,22pF,47pF,100pF,220pF,470pF,1nF,2.2nF,4.7nF,10nF,22nF,47nF, 100nF,220nF,470nF,1μF,2.2μF,4.7μF,10μF,22μF,47μF,100μF,220μF,470μF,1mF

列表掃描

10點(diǎn)，掃描參數(shù): 測(cè)試頻率、AC電壓

通用功能

串、并聯(lián)等效模式，測(cè)試電纜長(zhǎng)度：0、1m，平均：1-255次，校準(zhǔn)：開路、短路、負(fù)載，ALC功能， 量程選擇：自動(dòng)、手動(dòng)，觸發(fā)模式：INT、MAN、EXT、BUS，觸發(fā)延時(shí)：0-999s，鍵盤

鎖定功能

接觸檢查功能，同步信號(hào)源功能，頻率偏移功能（TH2638）、Cs-Rs-Ls（TH2638A）低輸出阻抗，電平 補(bǔ)償功能，一鍵截屏功能、一鍵記錄功能

比較器

11檔分選, PASS/FAIL指示,檔計(jì)數(shù)功能

存儲(chǔ)

40組儀器內(nèi)置測(cè)試設(shè)定文件 USB存儲(chǔ)器：40設(shè)定文件、GIF圖像、CSV數(shù)據(jù)文件

接口

RS232C,LAN,USBCDC,HANDL

應(yīng)用

■ 電解電容器高速高精度測(cè)試

■ 陶瓷電容器高速高精度測(cè)試

■ 薄膜電容器高速高精度測(cè)試

■ 各種電容器生產(chǎn)線高速測(cè)試

■ 高速自動(dòng)化生產(chǎn)線集成測(cè)試

■ 半導(dǎo)體、器件、材料分布電容測(cè)試

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