首頁>>北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司>>視頻展示>>影像測量儀>>芯片引腳共面性測試儀PZ-430D操作展示品智創(chuàng)思
測量原理：
通過線激光對芯片有焊錫球及的表面，或者IC上的引腳面進行掃描，采集出三維點集數(shù)據(jù)，并由軟件處理生成工件的3D圖形，通過軟件算法提取3D圖中每個焊錫球的最高點或者點，再用所有最高點或者點生成一個平面，并計算出平面度值即為焊錫球或者引腳共面性。
儀器結構：
設備采用固定龍門式XYZ三軸運動結構，內(nèi)部主體框架為大理石，可以保證穩(wěn)定的力學結構。托盤和被測工件可放在工作臺玻璃上，前后運動至測量區(qū)域，線掃激光頭和視覺物鏡組合體可以沿著左右運動掃描測量，并可以上下調焦以便適應不同高度面的測量。
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